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发明名称
模组化探测头
摘要
一种模组化探测头,供模组式装设于一探测卡,用以探触一待测之半导体晶圆,该探测头系包含有一矽基板,该矽基板系具有一探触表面及一结合表面,在该探触表面与该结合表面之间形成有复数个如格状阵列之电性贯通孔,其孔壁系具有二氧化矽层,该探触表面系形成有复数个接触元件,且该结合表面系形成有复数个导接端子,该些导接端子系经由该些电性贯通孔电性连接至该些接触元件,使得该探测头之结合表面模组式结合与电性导接至探测卡之介面板。
申请公布号
TW200426380
申请公布日期
2004.12.01
申请号
TW092113905
申请日期
2003.05.22
申请人
南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司 CHIPMOS TECHNOLOGIES(BERMUDA)., LTD. 英国
发明人
郑世杰;刘安鸿;王永和;曾元平;李耀荣
分类号
G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
张启威
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区研发一路一号
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