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发明名称
导电插塞之制造方法及半导体装置
摘要
本发明揭示一种导电插塞之制造方法。首先,在一基底上形成一介电层。接着,蚀刻介电层,以在介电层中形成至少一介层洞。之后,在介电层上及介层洞侧壁及底部顺应性形成一钛金属层,再藉由原子层沉积(atomic layer deposition,ALD)在钛金属层上形成一金属氮化层并填满介层洞。最后,去除介层洞上方多余的钛金属层及金属氮化层。本发明亦揭示一种具有该导电插塞之半导体装置。
申请公布号
TW200426984
申请公布日期
2004.12.01
申请号
TW092113827
申请日期
2003.05.22
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
吴启明;蔡明兴;谢静华;眭晓林
分类号
H01L21/768
主分类号
H01L21/768
代理机构
代理人
洪澄文;颜锦顺
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区园区三路一二一号
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