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发明名称
制造系统LCD用正型光阻组成物及光阻图型形成方法POSITIVE PHOTORESIST COMPOSITION FOR SYSTEM LCD PRODUCTION AND RESIST PATTERN FORMATION METHOD
摘要
本发明系提供在系统LCD制造用为恰当,高感度与高解像性为并存之正型光阻组成物,及光阻图型形成方法。该正型光阻组成物系含有,(A)硷可溶性树脂,(B)二叠氮基酯化物,(C)分子量为1000以下之含苯酚性羟基化合物,及(D)有机溶剂,如此所成之光阻组成物,其中,(B)成分系含有,下述一般式(I)所示之化合物与1,2-二叠氮基-4-磺醯基化合物之酯化反应生成物,在一个基板上可形成集成电路与液晶显示器部分之LCD制造用正型光阻组成物。093112515-p01.bmp
申请公布号
TW200426505
申请公布日期
2004.12.01
申请号
TW093112515
申请日期
2004.05.04
申请人
东京应化工业股份有限公司
发明人
土井宏介;新仓聪;大内康秀
分类号
G03F7/022
主分类号
G03F7/022
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本
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