侦测紫外线强度之侦测装置

摘要

本创作系一种侦测紫外线强度之侦测装置，该装置上设有一壳体，该壳体表面设有显示元件，且该显示元件并与壳体中之处理器相连接，该处理器分别与第一、二光电元件、外部记忆体及电子开关相连接，其中第二光电元件上设有一滤除紫外线之滤镜，使用时，可使外界之太阳光线进入可让所有的光通过之第一光电元件，以及可滤除紫外线之滤镜，再经过第二光电元件，并透过类比/数位转换器(A/D Converter)转换成数值送至处理器中，同时将外部记忆体中将原先储存之校正资料读入处理器后，经处理器运算处理后，即可得到一紫外线强度之数值，如此，不但可较知透过滤除紫外线以外之光线之光电元件之成本低，且可透过校正资料之校正而使所得之数值更为精确。

主权项

1.一种侦测紫外线强度之侦测装置,其包含有:一壳体;一显示元件,其系设置在壳体中;一处理器,其系与显示元件相连接;一第一光电元件,其系与处理器相连接,该第一光电元件系可使全部太阳光线通过,且该第一光电元件可将光能转换成电能;一第二光电元件,其系与处理器相连接,该第二光电元件上设有滤镜,该滤镜系将紫外线加以滤除,而让其他光线通过,且该第二光电元件可将光能转换成电能;一类比/数位转换器,其可将第一、二光电元件所得到之类比式电能转换成数位式数値;一外部记忆体,其系与处理器相连接,该记忆体系储存经校正过之数値资料;藉上述构件之组成,令外界之太阳光线进入第一光电元件及第二光电元件,并透过类比/数位转换器转换成数値送至处理器中,并经处理器与记忆体预存之资料作运算后,可透过显示元件将结果显示出来。2.如申请专利范围第1项所述之侦测紫外线强度之侦测装置,其显示元件可为液晶显示器。3.如申请专利范围第2项所述之侦测紫外线强度之侦测装置,其液晶显示器可为数字式。4.如申请专利范围第2项所述之侦测紫外线强度之侦测装置,其液晶显示器可为刻度式。5.如申请专利范围第1项所述侦测紫外线强度之侦测装置,其第一、二光电元件可为电阻式。6.如申请专利范围第1项所述侦测紫外线强度之侦测装置,其第一、二光电元件可为半导体式。7.如申请专利范围第1项所述侦测紫外线强度之侦测装置,其外部记忆体可为EEPROM。8.如申请专利范围第1项所述侦测紫外线强度之侦测装置,其处理器可与一电子开关相连接,该电子开关之不同接点分别与第一、二光电元件相连接,以便于电子开关之切换,控制第一、二光电元件。9.如申请专利范围第1项所述侦测紫外线强度之侦测装置,其壳体中可设有另一温度侦测元件。图式简单说明:第1图:为本创作之立体外观示意图。第2图:为本创作之电路方块示意图。第3图:为本创作之动作示意图。