发明名称 判断记忆体模组中程式码之正确性的方法
摘要 一种用于一电子装置中判断一记忆体模组中程式码之正确性的方法,该记忆体模组包含有一普通韧体码区段,该方法包含有:将至少一特定位址所储存之值设定为符合一第一条件;提供一检查指令;以及利用该检查指令检查该至少一特定位址所储存之值;其中该电子装置于启动时系依据该检查指令,检查该至少一特定位址之值是否符合该第一条件,以判断该普通韧体码区段中之程式码的正确性。
申请公布号 TWI224729 申请公布日期 2004.12.01
申请号 TW092135361 申请日期 2003.12.15
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 陈炳盛;吴松阳;林晏丞
分类号 G06F12/02 主分类号 G06F12/02
代理机构 代理人 许锺迪 台北县永和市福和路三八九号五楼
主权项 1.一种用于一电子装置中更新一记忆体模组中之程式码的方法,该记忆体模组包含有一普通韧体码区段,该方法包含有:将至少一特定位址所储存之値设定为符合一第二条件;以一第二程式码取代该普通韧体码区段当中所包含之一第一程式码;以及设定该至少一特定位址所储存之値,以使该普通韧体码区段中之程式码更新完成时该至少一特定位址所储存之値符合一第一条件。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该至少一特定位址所储存之値,系作为判断该普通韧体码区段中程式码更新后之正确性的依据。3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値为一第一値。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値为一特定组合。5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値均为相同之値。6.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値经运算后为一特定値。7.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该第二条件系为该第一条件之互斥条件。8.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有至少一非挥发性记忆体中之部分记忆体位址。9.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有该普通韧体码区段中之部分记忆体位址。10.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有除了该记忆体模组外的至少一非挥发性记忆体以及该普通韧体码区段中之部分记忆体位址。11.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该电子装置系为一光碟机。12.一种用于一电子装置启动时执行一记忆体模组中之程式码的方法,该记忆体模组包含有一普通韧体码区段,该方法包含有:利用该电子装置检查至少一特定位址所储存之値;若该至少一特定位址所储存之値符合一第二条件,该电子装置会执行一启动码区段内之程式码而不执行该普通韧体码区段内之程式码;以及若该至少一特定位址所储存之値符合一第一条件,该电子装置会执行该普通韧体码区段内之程式码。13.如申请专利范围第12项所述之方法,其另包含有利用该电子装置执行一检查指令,以检查该至少一特定位址所储存之値。14.如申请专利范围第13项所述之方法,其中该检查指令系储存于该记忆体模组之该启动码区段中。15.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该至少一特定位址所储存之値若符合该第二条件,表示该韧体之该普通韧体码区段中之程式码有误。16.如申请专利范围第12项所述之方法,具中该至少一特定位址所储存之値若符合该第一条件,表示该韧体之该普通韧体码区段中之程式码正确无误。17.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値为一第一値。18.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値为一特定组合。19.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値均为相同之値。20.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値经运算后为一特定値。21.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该第二条件系为该第一条件之互斥条件。22.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有至少一非挥发性记忆体中之部分记忆体位址。23.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有该普通韧体码区段中之部分记忆体位址。24.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有除了该记忆体模组外的至少一非挥发性记忆体以及该普通韧体码区段中之部分记忆体位址。25.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该电子装置系为一光碟机。26.一种用于一电子装置中判断一记忆体模组中之程式码之正确性的方法,该记忆体模组包含有一普通韧体码区段,该方法包含有:将至少一特定位址所储存之値设定为符合一第一条件;提供一检查指令;以及利用该检查指令检查该至少一特定位址之値;其中该电子装置于启动时系依据该检查指令,检查该至少一特定位址之値,若该至少一特定位址所储存之値符合一第二条件,表示该普通韧体码区段中之程式码有误;若该至少一特定位址所储存之値符合该第一条件,表示该普通韧体码区段中之程式码正确无误。27.如申请专利范围第26项所述之方法,其另包含有储存该检查指令于该记忆体模组之一启动码区段中。28.如申请专利范围第26项所述之方法,其另包含有:若该普通韧体码区段中之程式码有误,则该电子装置会执行该记忆体模组之一启动码区段内之程式码,而不执行该普通韧体码区段内之程式码。29.如申请专利范围第26项所述之方法,其另包含有:若该普通韧体码区段中之程式码正确无误,则该电子装置会执行该普通韧体码区段内之程式码。30.如申请专利范围第26项所述之方法,其另包含有:于进行该记忆体模组中之程式码更新动作时,利用该电子装置以一第二程式码取代该普通韧体码区段当中所包含之一第一程式码。31.如申请专利范围第30项所述之方法,其中该记忆体模组之一启动码区段当中之程式码,于该记忆体模组中之程式码更新的过程中,并不会被变更。32.如申请专利范围第30项所述之方法,其另包含有:于进行该记忆体模组中之程式码更新动作之初,将该至少一特定位址所储存之値设定为符合该第二条件。33.如申请专利范围第32项所述之方法,其另包含有:设定该至少一特定位址所储存之値,以使该至少一特定位址所储存之値于该记忆体模组中之程式码更新完成时符合该第一条件。34.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値为一第一値。35.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値为一特定组合。36.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値均为相同之値。37.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该第一条件系为:该至少一特定位址所储存之値经运算后为一特定値。38.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该第二条件系为该第一条件之互斥条件。39.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有至少一非挥发性记忆体中之部分记忆体位址。40.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有该普通韧体码区段中之部分记忆体位址。41.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该至少一特定位址系包含有除了该记忆体模组外的至少一非挥发性记忆体以及该普通韧体码区段中之部分记忆体位址。42.如申请专利范围第26项所述之方法,其中该电子装置系为一光碟机。图式简单说明:图一为本发明之一非挥发性记忆体的示意图。图二为本发明用于一电子装置更新韧体程式码的方法之一实施例流程图。图三为本发明之另一非挥发性记忆体的示意图。图四为本发明用于一电子装置中判断一韧体程式码之正确性的流程图。图五为本发明用于一电子装置启动时执行一韧体程式码的方法之流程图。
地址 新竹县新竹科学工业园区创新一路一之二号五楼