| 主权项 |
1.一种驱动受测电子元件之测试脉冲的产生方法,包含:决定一传输时脉、一预期连续脉冲以及与该预期连续脉冲相应之一测试时脉,该测试时脉系用以提供给一受测电子元件,其中该传输时脉之频率大于该测试时脉之频率;产生复数个连续资料位元,该复数个资料位元系依据该预期连续脉冲与该传输时脉所产生;转换该复数个连续资料位元成为一序列资料串流;以及输出该序列资料串流至该受测电子元件,该序列资料串流系依据该传输时脉以固定频率输出固定位元数来形成该预期连续脉冲。2.如申请专利范围第1项所述之驱动受测电子元件之测试脉冲的产生方法,其中上述之传输时脉之频率系为该测试时脉之一倍数,并且该传输时脉以该倍数之周期与该测试时脉同步。3.如申请专利范围第2项所述之驱动受测电子元件之测试脉冲的产生方法,其中上述之预期连续脉冲包含复数个脉冲,各该复数个脉冲系由该复数个连续资料位元中相应之部份位元经输出所产生。4.如申请专利范围第3项所述之驱动受测电子元件之测试脉冲的产生方法,其中上述之复数个连续资料位元中相应该脉冲之部份位元之位元数为该倍数。5.如申请专利范围第1项所述之驱动受测电子元件之测试脉冲的产生方法,其中上述之复数个连续资料位元之输出系于该传输时脉之每一周期输出一子脉冲,该子脉冲相应于该复数个连续资料位元中的一位元,并且该子脉冲于该周期维持该位元所相应之逻辑资料所代表之电位。6.如申请专利范围第1项所述之驱动受测电子元件之测试脉冲的产生方法,更包含一预强调之该序列资料串流,该序列资料串流系于输出前经预强调后,再达到该预期连续脉冲所相应之电位。7.如申请专利范围第1项所述之驱动受测电子元件之测试脉冲的产生方法,其中上述之复数个连续资料位元系经转换成为复数个平行资料串流后,再由该复数个平行资料串流转换为该序列资料串流。8.如申请专利范围第7项所述之驱动受测电子元件之测试脉冲的产生方法,其中上述之平行资料串流系将该复数个连续资料位元依顺序以间隔(interleave)的方式分配至各该平行资料串流来产生。9.一种产生驱动受测电子元件之测试脉冲的系统,包含:一时脉产生器,该时脉产生器系用以提供一测试时脉与一传输时脉,该测试时脉系用以提供给一受测电子元件,其中该传输时脉之频率大于该测试时脉之频率;一储存单元,该储存单元系用以储存复数个连续资料位元,该复数个资料位元系相应于该传输时脉,并且依据相应于测试时脉之一预期连续脉冲所产生;一转换单元,该转换单元系用以从该储存单元读取该复数个连续资料位元并转换为一序列资料串流;一传输单元,该传输单元系用以输出该序列资料串流,该序列资料串流系依据该传输时脉以固定频率输出固定位元数来形成该预期连续脉冲。10.如申请专利范围第9项所述之产生驱动受测电子元件之测试脉冲的系统,其中上述之传输时脉之频率系为该测试时脉之一倍数,并且该传输单元系将该传输时脉以该倍数之周期与该测试时脉同步。11.如申请专利范围第10项所述之产生驱动受测电子元件之测试脉冲的系统,其中上述之预期连续脉冲包含复数个脉冲,各该复数个脉冲系由该传输单元将该复数个连续资料位元中相应之部份位元输出所产生。12.如申请专利范围第11项所述之产生驱动受测电子元件之测试脉冲的系统,其中上述之复数个连续资料位元中相应该脉冲之部份位元之位元数为该倍数。13.如申请专利范围第9项所述之产生驱动受测电子元件之测试脉冲的系统,其中上述之复数个连续资料位元之输出系于该传输时脉之每一周期由该输出单元输出一子脉冲,该子脉冲相应于该复数个连续资料位元中的一位元,并且该子脉冲于该周期维持该位元所相应之逻辑资料所代表之电位。14.如申请专利范围第13项所述之产生驱动受测电子元件之测试脉冲的系统,其中上述之该子脉冲输出前,系经该输出单元预强调后,再达到该位元所相应之逻辑资料所代表之电位。15.如申请专利范围第9项所述之产生驱动受测电子元件之测试脉冲的系统,其中上述之复数个连续资料位元系经转换成为复数个平行资料串流后,再由该复数个平行资料串流转换为该序列资料串流。16.如申请专利范围第15项所述之产生驱动受测电子元件之测试脉冲的系统,其中上述之平行资料串流系将该复数个连续资料位元依顺序以间隔的方式分配至各该平行资料串流来产生。17.一种用以产生驱动受测电子元件之测试脉冲的具有串行器之现场可编程闸阵列(FPGA),包含:一具有串行器之现场可编程闸阵列之装置,系用以提供一测试时脉与一传输时脉,分别提供给一受测电子元件与一串行器,以及用以储存相应于该传输时脉与依据相应于该测试时脉之一预期连续脉冲所产生之复数个连续资料位元其中该传输时脉之频率大于该测试时脉之频率;一转换单元,该转换单元系读取已储存之该复数个连续资料位元并交由该串行器输出,并且该复数个连续资料位元依据该传输时脉由该串行器以固定频率输出固定位元数来形成该预期连续脉冲。18.如申请专利范围第17项所述之用以产生驱动受测电子元件之测试脉冲的具有串行器之现场可编程闸阵列,其中上述之传输时脉之频率系为该测试时脉之一倍数,并且该传输时脉系以该倍数之周期与该测试时脉同步。19.如申请专利范围第18项所述之用以产生驱动受测电子元件之测试脉冲的具有串行器之现场可编程闸阵列,其中上述之预期连续脉冲包含复数个脉冲,各该复数个脉冲系由该串行器将该复数个连续资料位元中相应之部份位元输出所产生。20.如申请专利范围第19项所述之用以产生驱动受测电子元件之测试脉冲的具有串行器之现场可编程闸阵列,其中上述之复数个连续资料位元中相应该脉冲之部份位元之位元数为该倍数。21.如申请专利范围第19项所述之用以产生驱动受测电子元件之测试脉冲的具有串行器之现场可编程闸阵列,其中上述之复数个连续资料位元之输出,系于该传输时脉之每一周期由该输出单元输出一子脉冲,该子脉冲相应于该复数个连续资料位元中的一位元,并且该子脉冲于该周期维持该位元所相应之逻辑资料所代表之电位。22.如申请专利范围第21项所述之用以产生驱动受测电子元件之测试脉冲的具有串行器之现场可编程闸阵列,其中上述之该子脉冲输出前,系经该串行器预强调后,再达到该位元所相应之逻辑资料所代表之电位。图式简单说明:第一A图为脉冲主要要素之示意图;第一B图为先前技术之功能方块示意图;第二A图为本发明之一具体实施例之流程图;第二B为本发明之一具体实施例之输出示意图;以及第三图为本发明之另一具体实施例之功能方块示意图。 |
