发明名称 环境测试装置
摘要 根据本发明所揭露的环境测试装置,系应用于设在基板之待测物,透过提供经温控之风予此待测物,使位于密闭空间之待测物做在此风温下的性能测试,因此,本发明可以快速且便利地对此待测物做相异环境温度下的性能测试,不论是在待测物正处于运作状态或是不处于运作状态。
申请公布号 TWI224675 申请公布日期 2004.12.01
申请号 TW091108651 申请日期 2002.04.26
申请人 英业达股份有限公司 发明人 李志坚
分类号 G01R1/00 主分类号 G01R1/00
代理机构 代理人 许世正 台北市信义区忠孝东路五段四一○号四楼
主权项 1.一种环境测试装置,应用于设置有一待测物之一基板,该装置包括有:一罩体,具有恰容置该待测物之一空间;一送风机构,提供气流;一风管,一端连接于该罩体,且另一端连接于该送风机构;及一控温器,设置于该风管,以控制该风管中之风温。2.如申请专利范围第1项所述环境测试装置,更包括有设于该空间之一温度感测器,以量测该空间中之温度。3.如申请专利范围第2项所述环境测试装置,其中该风管之风口对应该待测物,且该温度感测器设于该风口与该待测物间。4.如申请专利范围第2项所述环境测试装置,其中该温度感知器具有包覆于其外表面之一遮罩,且该遮罩之材质同于该待测物表面之材质,以使该温度感测器精确地量测出该待测物位于该空间中之温度。5.如申请专利范围第1项所述环境测试装置,其中该风管之风口端缘具有复数个第一出风口,以均匀地将风吹入该空间。6.如申请专利范围第1项所述环境测试装置,其中该风管之风口侧缘具有复数个第二出风口,以均匀地将风吹入该空间。图式简单说明:第1A图为本发明之使用例图; 第1B图为第1A图之A-A'连线的剖面图;第2图为本发明之风口的构造图;第3图为由本发明风经风口流出后之流向图;及第4图为本发明之另一实施例。
地址 台北市士林区后港街六十六号