发明名称 测试配置于矩阵阵列中像素之方法及装置
摘要 一种用于测试配置于TFT基板上之一矩阵阵列中复数个像素之装置包含:一电子枪,其用于将电子束入射至该TFT基板;一次级电子侦测器,其用于侦测藉由将该电子束入射至该TFT基板而产生的次级电子之数量;及一平台,其用于承载固定于其上之该TFT基板。该电子枪相对于固定在该平台上的TFT基板而置放,并将电子束入射至每一基本扫描区域。该电子枪在一个基本扫描区域中扫描电子束一预定数目的次数,以获得为测试像素中存在/不存在缺陷所需的次级电子波形。一直移动该平台,同时该电子枪在每一基本扫描区域中扫描电子束,藉以测试该TFT基板之整个区域。
申请公布号 TW200426383 申请公布日期 2004.12.01
申请号 TW093102185 申请日期 2004.01.30
申请人 岛津制作所股份有限公司 发明人 葛拉莫 多罗里拉;筱原真;西原隆治
分类号 G01R31/305;G09G3/00 主分类号 G01R31/305
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本