| 主权项 |
1.一种IC测试处理机之IC料件输送结构,主要系由空料盘调度区、入料区、主缓冲区(预热区)、测试区、完测配送区及环置在各区外围之IC递送手臂所组成,其中:空料盘调度区:由空的IC料盘所层叠而成;入料区:将待测IC置于IC料盘内,并集中于本区层叠;主缓冲区(预热区):在一大方盘内设置五只相同大小的IC承置盘(预热盘),使留下一盘大小的空间,而该五只IC承置盘(预热盘)可作逆时针方向转动,并可作适当的加温,使承置的IC加热者;测试区:在一测试台上设有一测试座,该测试座设有二排(可安装二、四、六或八支)的测试头,其宽度恰为二梭车(飞梭)宽度之半,并由第一梭车(飞梭)与第二梭车(飞梭)一左、一右错开并平行穿过测试台前、后侧;该测试座可前、后移动于第一梭车(飞梭)与第二梭车(飞梭)间;另在二梭车(飞梭)间之左侧设有一只可承呈数枚IC之第二缓冲区;完测配送区:由一只第三缓冲区及二组出料梭车载盘、三只固定之完测IC料盘及三区可层叠之完测IC料盘所组成;IC递送手臂:第一组IC递送手臂,主要系负责将待测IC由入料区1移至主缓冲区(预热区)之入口区;第二组IC递送手臂,主要是负责将待测ICa由主缓冲区(预热区)之取出区搬移至第二缓冲区或第一梭车(飞梭)及第二梭车(飞梭)之左载盘上的IC座内;第三组IC递送手臂,主要负责将完测之第一梭车(飞梭)、第二梭车(飞梭)右载盘上之IC取出至第三缓冲区或出料梭车载盘;第四组IC递送手臂,负责将出料梭车载盘内之完测IC移至固定完测IC料盘或层叠之完测IC料盘者。2.一种IC测试处理机之IC料件输送程序,其IC料件输送步骤特征如下:1)将待测之IC层叠置于入料区之IC料盘上;2)由第一组IC递送手臂将待测IC移至可适当加热的主缓冲区(预热区)内之入口区的IC承置盘(预热盘)内,并于该IC承置盘(预热盘)载满后依逆时针方向转动一格,依此类推;3)当主缓冲区(预热区)内之装置有IC之IC承置盘(预热盘)转至取出区之位置时,即以第二组IC递送手臂将其IC取至第二缓冲区内,并依序将其填满者;4)俟第二缓冲区填满IC后,续将接下来取出之IC置于第一梭车(飞梭)左载盘内;5)第二组IC递送手臂回至取出区再取出二只IC,并将第一梭车(飞梭)送出、第二梭车(飞梭)送回;6)第二组IC递送手臂放入IC于第二梭车(飞梭)左载盘内,同时测试座之测试头取出第一梭车(飞梭)左载盘上之二IC后往前移至中心位置预备下压作测试,此时另一测试头则位于第二梭车(飞梭)之右载盘上方;7)第二组IC递送手臂回至主缓冲区(预热区)取出区再取出二只IC、测试头作IC测试,同时将第一梭车(飞梭)送回、第二梭车(飞梭)送出;8)测试头至第二梭车(飞梭)左载盘上取出IC预备作测试、将测试座往后移动,令测试头将完测之IC置入第一梭车(飞梭)右载盘内、并且第二组IC递送手臂放入IC于第一梭车(飞梭)左载盘内;9)第二组IC递送手臂回至主缓冲取出区再取出二只IC、测试头作IC测试,同时将第一梭车(飞梭)送出、第二梭车(飞梭)送回;10)测试头至第一梭车(飞梭)左载盘上取出IC预备作测试、将测试座往前移,使测试头将完测之IC置入第二梭车(飞梭)右载盘内、并同时第二组IC递送手臂放入IC于第二梭车(飞梭)左载盘内,且第三组IC递送手臂将第一梭车(飞梭)右载盘上之IC吸取至出料梭车载盘之梭车载盘载送起点内;11)第二组IC递送手臂回至主缓冲区(预热区)取出区再取出二只IC、测试头作IC测试,同时将第一梭车(飞梭)送回、第二梭车(飞梭)送出、出料梭车载盘由梭车载盘载送起点载至梭车载盘载送终点;12)测试头至第二梭车(飞梭)左载盘上取出IC预备作测试、测试座往后移动,使测试头将完测之IC置入第一梭车(飞梭)右载盘内、并同时第二组IC递送手臂放入IC于第一梭车(飞梭)左载盘内、并由第三组IC递送手臂将第二梭车(飞梭)右载盘上之IC吸取至出料梭车载盘之梭车载盘载送起点内,同时,第四组IC递送手臂由梭车载盘载送终点取出完测IC,并根据该IC测试结果予以归类至三只固定之完测IC料盘内或层叠至完测IC料盘内;13)第二组IC递送手臂回至主缓冲区(预热区)取出区再取出二只IC、测试头作IC测试,同时将第一梭车(飞梭)送出、第二梭车(飞梭)送回、出料梭车载盘由梭车载盘载送起点载至梭车载盘载送终点、另一出料梭车载盘由梭车载盘载送终点送回活动出料梭车载盘起点;14)第四组IC递送手臂由梭车载盘载送终点取出完测IC,并根据该IC测试结果予以归类至三只固定之完测IC料盘内或层叠至完测IC料盘内,并跳由第10步骤断续进行者;根据上述步骤,在测试区内之第一梭车(飞梭)与第二梭车(飞梭)左载盘,在正常的程序下,系直接由主缓冲区(预热区)索取待测IC,但当主缓冲区(预热区)因转动IC承置盘(预热盘)而使第二组IC递送手臂无法由主缓冲区(预热区)取出IC时,程式可马上指定改由第二缓冲区内拿取待测IC,继续执行测试IC的动作,而不必停机等待,等到先前暂停的因素停止(即IC承置盘(预热盘)转动到位)后再恢复正常程序,并由于IC递送手臂的搬送速度较IC测试速快,可在稍后空档时间内,断续将第二缓冲区内的待测IC填满;同样地,当完测配送区因更换IC料盘而暂时无法供完测IC输出放置时,程式亦可暂时指定第三组IC递送手臂取出完测IC(即由第一、第二梭车(飞梭)右载盘内取出)后放置的位置(即出料梭车载盘或完测IC料盘)改至放置于第三缓冲区内,俾利第三组IC递送手臂继显动作,待先前暂停原因消除时,再回覆原来的IC运送流程,且该IC递送手臂的运送IC速度较快,使能在空档时,断续由第三缓冲区内取出完测IC至出料梭车载盘,以将第三缓冲区内的IC清空;如此,保持第二缓冲区被填满待测IC、第三缓冲区清空完测IC的状态,方能不中断测试区测试IC的作业者。图式简单说明:第1图系本发明之IC输送配置图。第2图系本发明之测试区IC置于第二缓冲区示意图。第2A图系本发明之测试区IC置于第一梭车(飞梭)左载盘IC座示意图。第2B图系本发明之测试区中:a)第一梭车(飞梭)送出;b)第二梭车(飞梭)送回之示意图。第2C图系本发明之测试区中:a)测试头取出第一梭车(飞梭)左载盘IC作测试;b)将IC置入第二梭车(飞梭)左载盘之IC座之示意图。第2D图系本发明之测试区中:a)第一梭车(飞梭)送回;b)第二梭车(飞梭)送出之示意图。第2E图系本发明之测试区中:a)测试头放回完测IC于第一梭车(飞梭)右载盘之IC座;b)取出第二梭车(飞梭)左载盘比作测试;c)再一次将待测IC放入第一梭车(飞梭)左载盘内之示意图。第2F图系本发明之测试区中:a)第一梭车(飞梭)送出;b)第二梭车(飞梭)送回之示意图。第2G图系本发明之测试区中:a)测试头放回完测IC于第二梭车(飞梭)右载盘之IC座。b)取出第一梭车(飞梭)左载盘IC作测试;c)将第一梭车(飞梭)右载盘上之完测IC取出至第三缓冲区之承置盘内;d)再一次将待测lC放入第二梭车(飞梭)左载盘内之示意图。第2H图系本发明之测试区中:a)第一梭车(飞梭)送回;b)第二梭车(飞梭)送出之示意图。第2I图系本发明之测试区中:a)测试头放回完测IC于第一梭车(飞梭)右载盘之IC座;b)取出第二梭车(飞梭)左载盘IC作测试;c)将第二梭车(飞梭)右载盘上之完测IC取出至第三缓冲区之承置盘内;d)再一次将待测IC放入第一梭车(飞梭)左载盘内之示意图。第2J图系本发明之测试区中:a)第一梭车(飞梭)送出;b)第二梭车(飞梭)送回之示意图。 |
