发明名称 |
研磨垫、其制法和金属模以及半导体晶片抛光方法 |
摘要 |
一种能透射用于终点探测的光而不减小使用光学终点探测装置的半导体晶片的抛光中的抛光效率的研磨垫,一种制造该研磨垫的方法,一种用于制造研磨垫的金属模以及一种抛光半导体晶片的方法。该研磨垫包括研磨基底和透光组件。透光组件包括交联聚合物如交联的1,2-聚丁二烯和分散在交联聚合物中的水溶性物质如β-环糊精。由于透光组件和研磨基底熔合在一起作为集成单元,研磨垫在使用期间,浆料不会渗漏到研磨垫的背面。该制造方法包括在用于夹物模压的金属模中设置透光组件以及在该模子中交联用于形成研磨基底的基质分散体。使用该研磨垫的抛光方法采用光学终点探测装置。 |
申请公布号 |
CN1550288A |
申请公布日期 |
2004.12.01 |
申请号 |
CN200410043098.5 |
申请日期 |
2004.04.09 |
申请人 |
JSR株式会社 |
发明人 |
保坂幸生;志保浩司;长谷川亨;川桥信夫 |
分类号 |
B24B37/04;B24D3/00;H01L21/304;C08J5/14 |
主分类号 |
B24B37/04 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
卢新华;段晓玲 |
主权项 |
1.一种研磨垫包括:具有抛光表面的研磨基底和透光组件,该透光组件熔合到研磨基底并包括不溶于水的基质材料和分散在不溶于水的基质材料中的水溶性物质。 |
地址 |
日本东京都 |