发明名称 检验状态显示方法
摘要 本发明之目的系即时验证缺陷内容。缺陷影像、对应原版图案Y影像、故障指示钮、非缺陷指示钮、灰尘指示钮、块编号、块座标及缺陷类型系显示于检验状态显示窗之缺陷影像区内。当选定非缺陷指示钮或灰尘指示钮时,检验装置辨识对应该选定钮之缺陷可忽略,而将此种缺陷检验结果由缺陷改成非缺陷。
申请公布号 TW200407797 申请公布日期 2004.05.16
申请号 TW092106078 申请日期 2003.03.19
申请人 亚比欧尼克斯股份有限公司 发明人 服部新一;井田彻
分类号 G06K9/78 主分类号 G06K9/78
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本