发明名称 |
ERROR CHECK AND CORRECTING CIRCUIT FOR TESTING OF SEMICONDUCTOR MEMORY |
摘要 |
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申请公布号 |
KR100460708(B1) |
申请公布日期 |
2004.11.30 |
申请号 |
KR19970048290 |
申请日期 |
1997.09.23 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
KIM, GWANG WON |
分类号 |
G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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