| 发明名称 | X射线检测器 | ||
| 摘要 | X射线检测器具备用隔板39分离每个像素的闪烁体层38与将该闪烁体层38变换的荧光变换为信号电荷的光电二极管13，其中当形成闪烁体层38的荧光体粒子的平均粒径为Ds、构成隔板39的粒子的平均粒径为Dw时，Ds＞Dw。 | ||
| 申请公布号 | CN1643399A | 申请公布日期 | 2005.07.20 |
| 申请号 | CN03807136.3 | 申请日期 | 2003.03.28 |
| 申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 伊藤健一;会田博之;小柳津英二;福田幸洋;齐藤昭久;藤泽晶子;本间克久 |
| 分类号 | G01T1/20 | 主分类号 | G01T1/20 |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 包于俊 |
| 主权项 | 1.一种X射线检测器，具备：像素单位的光电变换部、形成于所述光电变换部的各像素上的含有荧光材料I的闪烁体像素、以及设置于所述闪烁体像素间的含有荧光材料及/或非荧光材料的隔板，其特征在于，当所述荧光材料I的平径粒径为Ds、所述荧光材料及/或非荧光材料的平均粒径为Dw时， Ds＞Dw。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||