| 摘要 |
本发明系为一种测试方法，特别是指一种积体电路测试方法。为了改善传统的类比数位转换器测试不但需要执行直方图分析来得到电路的静态效能，同时还需要执行快速傅立叶转换分析来得到电路的动态效能，本发明系提出一种仅单独采用直方图分析的技术来同时测试类比数位转换器静态与动态规格参数的测试方法。本案之主要概念便是在于将类比数位转换器电路的每一个输出数位码(digital output code bin)的取样(sample)次数做数学分析，来得到量化误差的资讯，并藉对此资讯分析来评估电路的规格特性。分析后，可以得到重要的电路规格参数，例如偏移量(offset)、差分非线性误差(differential nonlinearity error, DNL)、积分非线性误差(integral nonlinearity error, INL)以及电路之有效位元数(effective number of bit, ENOB)。本发明不但能够提供类比数位转换器电路规格与误差之间的分析，还能够在指定的信心区间(confidence interval)下利用简化的测试流程对电路的规格作合理的评估。 |
