发明名称 |
用以厘清漏电流发生原因的半导体测试结构 |
摘要 |
本发明提供一种半导体测试结构,用以厘清漏电流发生原因,其包含一阱具有一第一导电性,一第一隔离组件位于阱中,至少一第一掺杂区位于第一隔离组件的一侧,此第一掺杂区具有一第二导电性,一第二掺杂区位于第一隔离组件的相反另一侧的阱中,此第二掺杂区具有第一导电性,且其掺杂浓度大于阱,以及对外连接至一接地电压。此种结构可以厘清结或氧化层所导致的漏电流的各种型态,例如面型、场缘型、多晶硅缘型或是栅极缘型的贡献度。 |
申请公布号 |
CN1549321A |
申请公布日期 |
2004.11.24 |
申请号 |
CN03128825.1 |
申请日期 |
2003.05.23 |
申请人 |
上海宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
蔡孟锦;郑望;冷德学 |
分类号 |
H01L21/66 |
主分类号 |
H01L21/66 |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 |
代理人 |
王洁 |
主权项 |
1.一种半导体测试结构,用以厘清漏电流发生原因,该半导体测试结构包含:一阱具有一第一导电性;一第一隔离组件位于该阱中;至少一第一掺杂区位于该第一隔离组件的一侧,该第一掺杂区具有一第二导电性;及一第二掺杂区位于该第一隔离组件的相反另一侧的该阱中,该第二掺杂区具有该第一导电性,且其掺杂浓度大于该阱,以及对外连接至一接地电压。 |
地址 |
201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号 |