发明名称 电光装置的检查方法、电光装置的检查用电路、电光装置及电子设备
摘要 本发明的课题是对配线和电极等有无缺陷进行精确检查。其目的是提供一种对备有与扫描线4-i和数据线5-j的交叉点对应设置的电容的电光装置100进行检查的方法。在将与数据信号对应的电荷存储在电容62内之后,通过使设置在数据线5-j与读出信号线35之间的检查开关元件34-j接通,将与存储在上述电容62内的电荷对应的电压输出到读出信号线35。使检查开关元件34-j接通的时刻,与规定检查用电路3的动作的检查用时钟信号TCK的电平变化时刻不同。
申请公布号 CN1177309C 申请公布日期 2004.11.24
申请号 CN01142752.3 申请日期 2001.12.06
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 藤田伸
分类号 G09G3/36;G02F1/133 主分类号 G09G3/36
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 刘宗杰;王忠忠
主权项 1.一种电光装置的检查方法,对对应于扫描线和数据线的交叉点设置象素,各上述象素具有在象素电极和上述数据线之间插接和象素开关元件和电容的电光装置,使用在上述数据线和读出信号线之间插接的检查开关元件,和根据将电平反复变化的动作指示信号进行动作,将上述检查开关元件接通的控制电路作检查;其特征在于:具有通过接通上述象素开关元件,将根据数据信号的电压供给到上述电容的第1步骤,根据上述将电平反复变化的动作指示信号,使上述控制电路动作,而另一方面,在比上述电平变化的时刻延迟了的时刻,使上述检查开关元件接通的第2步骤,和通过接通了的上述检查开关元件,将与积蓄在上述电容的电荷对应的电压,输出到上述读出信号线,判断供给到上述电容的电压,与根据上述数据信号的电压是否对应的第3步骤。
地址 日本东京都