发明名称 |
混合式集成电路的沟道式电容器的制造方法 |
摘要 |
本发明系揭示一种混合式集成电路的沟道式电容器的制造方法,其系在一半导体基底上形成用以隔绝主/被动组件的浅沟道隔离区域时,在预留的复数个浅沟道中依序形成下层电极的多晶硅层、介电层及上电极层,使其结合在一起而制作出沟道式电容器结构。本发明利用制程简单的沟道式电容器取代常用的立体结构电容器,以便在不影响后续制程的前提下,有效增加电容器的表面积并提高其电容量。 |
申请公布号 |
CN1549333A |
申请公布日期 |
2004.11.24 |
申请号 |
CN03128824.3 |
申请日期 |
2003.05.23 |
申请人 |
上海宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
高荣正 |
分类号 |
H01L21/822 |
主分类号 |
H01L21/822 |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 |
代理人 |
王洁 |
主权项 |
1、一种混合式集成电路的沟道式电容器的制造方法,其系包括下列步骤:在一半导体基底中形成有一用以隔绝主、被动组件的第一浅沟道隔离区域及一第二浅沟道隔离区域;形成一第一图案化光阻层于该半导体基底上,仅露出该第二浅沟道隔离区域,以该第一图案化光阻层为掩膜,去除该第二浅沟道隔离区域内的氧化物而仅留下数浅沟道,随后移除该第一图案化光阻层;在该第一浅沟道隔离区域上依序形成栅极结构、源/漏极区域半导体基本组件,且在形成栅极结构的同时,亦在该第二浅沟道隔离区域上形成一多晶硅层,以作为下电极层;在该半导体基底上依序形成一介电层及一上电极层;形成一第二图案化光阻层于该半导体基底上,以覆盖该第二浅沟道隔离区域,并露出该第一浅沟道隔离区域上的组件;及以该第二图案化光阻层为掩膜,去除露出的该上电极层,使位于该沟道中的该上电极层、介电层及多晶硅层形成一沟道式电容器。 |
地址 |
201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号 |