发明名称 |
密集波分复用系统自动光功率减小进程时间的测试方法和装置 |
摘要 |
一种涉及光通信领域中的密集波分复用系统自动光功率减小进程时间的测试方法,在光功率减小进程时间的测试中,对于相关激活时间测试所涉及的起测光放大器和响应光放大器,当起测光放大器处于起测点时,设置中断信号通过CPU控制系统启动计数器进行计数,当响应光放大器处于响应点时,设置中断信号通过CPU控制系统停止计数器计数,并根据计数器值反映相应的光功率减小进程时间的测试结果;其测试装置,包括电源,其特征在于:还包括CPU小系统、控制处理模块、及至少两个与相关激活时间测试所涉及的起测光放大器和响应光放大器分别相连的通道信号检测处理模块;本发明简单易行、使用方便、造价低廉,为工程技术提供支持。 |
申请公布号 |
CN1549487A |
申请公布日期 |
2004.11.24 |
申请号 |
CN03113445.9 |
申请日期 |
2003.05.09 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
程智刚;石峰 |
分类号 |
H04J14/02;H04B10/08 |
主分类号 |
H04J14/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种密集波分复用系统自动光功率减小进程时间的测试方法,其特征在于:它采用如下步骤:A、光功率减小进程时间的测试中,对于相关激活时间测试所涉及的起测光放大器和响应光放大器,当起测光放大器处于起测点时,设置中断信号通过CPU控制系统启动计数器进行计数;B、当响应光放大器处于响应点时,设置中断信号通过CPU控制系统停止计数器计数,并根据计数器值反映相应的光功率减小进程时间的测试结果,测试结果分为超时、失败和成功。 |
地址 |
518057深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部 |