| 主权项 |
1.一种传导性电磁干扰杂讯处理方法,包含下列步骤:量测一电子仪器之传导性电磁干扰之一原始杂讯;利用该原始杂讯,分离传导性电磁干扰之一杂讯成份;利用该杂讯成份,设计一滤波器。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中量测一电子仪器之传导性电磁干扰之一原始杂讯更包含下一子步骤:由线性频谱刻度取得对数频谱刻度。3.如申请专利范围第2项所述之方法,其中该子步骤包含下列程序:将一开始频率和一结尾频率转成对数刻度,可得一开始频率对数値和一结尾频率对数値;将该开始频率对数値和该结尾频率对数値等分成数格,每一格可得一起点频率对数値和一终点频率对数値,共可得一组起点频率对数値和一组终点频率对数値;将该组起点频率对数値和该组终点频率对数値取指数运算,算回线性刻度的频率値,可得一组起点频率和一组终点频率;将该起点频率对数値和该终点频率对数値等分成数小格得一组对数値点,将该组对数値点取指数运算,算回线性刻度的频率値,可得一组线性値点;依序将该组起点频率对数値和该组终点频率对数値转成线性刻度,可得多组线性値点;使用一频谱仪在该起点频率和该终点频率扫描,得一组频谱资料,包含一组频率资料和其对应之一组杂讯数値资料;依序完成该数格之扫描,可得多组频谱资料,包含多组频率资料和其对应之多组杂讯数値资料;将该多组频谱资料中,与该多组线性値点最接近的多组频率资料其对应之多组杂讯数値资料记录,得多组对应杂讯数値资料;显示多组对应杂讯数値资料与多组线性値点的关系。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该杂讯成份为一共模杂讯或一差模杂讯。5.如申请专利范围第4项所述之方法,其中分离传导性电磁干扰杂讯成份,包含已知该共模杂讯,计算该差模杂讯。6.如申请专利范围第4项所述之方法,其中分离传导性电磁干扰杂讯成份,包含已知该差模杂讯,计算该共模杂讯。7.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该滤波器包含一共模杂讯滤波器和一差模杂讯滤波器。8.如申请专利范围第1项所述之方法,其中利用该杂讯成份,设计该滤波器包含下列步骤:利用该杂讯成份,计算该滤波器所需之一杂讯衰减需求量;利用该杂讯衰减需求量及一待衰减杂讯频率,计算该滤波器之一转折频率;利用该转折频率,计算该滤波器所需之一电容値和一电感値。9.如申请专利范围第8项所述之方法,在利用该杂讯成份,设计一滤波器后更包含下一步骤:利用该转折频率、该电容、及该电感加入一阻尼电路。10.如申请专利范围第8项所述之方法,其中该杂讯成份为一共模杂讯,该滤波器为一共模杂讯滤波器。11.如申请专利范围第8项所述之方法,其中该杂讯成份为一差模杂讯,该滤波器为一差模杂讯滤波器。12.如申请专利范围第9项所述之方法,其中该杂讯成份为一共模杂讯,该滤波器为一共模杂讯滤波器。13.如申请专利范围第9项所述之方法,其中该杂讯成份为一差模杂讯,该滤波器为一差模杂讯滤波器。14.如申请专利范围第12项所述之方法,其中该共模杂讯滤波器之该阻尼电路包含一阻尼电阻和一阻尼电容。15.如申请专利范围第13项所述之方法,其中该差模杂讯滤波器之该阻尼电路包含一阻尼电阻和一阻尼电感。图式简单说明:第一图为本发明电磁干扰杂讯量测、杂讯分离和滤波器设计系统方块图。第二图为本发明电磁干扰杂讯量测、杂讯分离及滤波器设计方法流程图。第三图为本发明电磁干扰滤波器架构。第四图为本发明电磁干扰滤波器共模等效电路。第五图为本发明电磁干扰滤波器差模等效电路。 |
