| 主权项 |
1.一种透射扫描的校正方法,其包括下列步骤:依据待扫描的一透射稿件,设定一第一曝光时间及一第二曝光时间,其中该第一曝光时间和该第二曝光时间之间具有一特定比例关系;扫描该透射稿件及一校正区域分别得到一扫描信号及一校正信号,其中扫描该透射稿件时的曝光时间为该第一曝光时间,扫描该校正区域时的曝光时间为该第二曝光时间;利用该校正信号求得一第一增益系数;利用所求得的第一增益系数,及该第一曝光时间和该第二曝光时间的特定比例关系,求得一第二增益系数;以及利用该第二增益系数放大该扫描信号。2.如申请专利范围第1项所述之透射扫描的校正方法,其中求得一第二增益系数之后更包括下列步骤:判断所求得的第二增益系数是否小于1;当该第二增益系数小于1时,将该第二增益系数设为1。3.如申请专利范围第1项所述之透射扫描的校正方法,其中该第一曝光时间及该第一增益系数相乘后的値等于该第二曝光时间及该第二增益系数相乘后的値。4.如申请专利范围第1项所述之透射扫描的校正方法,其中该透射稿件为正片、负片、反转片或幻灯片。5.一种透射扫描的校正方法,用于包括一光电感测元件取像装置的扫描装置中,其包括下列步骤:依据待扫描的一透射稿件,设定该光电感测元件取像装置的一第一曝光时间及一第二曝光时间,其中该第一曝光时间和该第二曝光时间之间具有一特定比例关系;扫描该透射稿件及一校正区域分别得到一扫描信号及一校正信号,其中扫描该透射稿件时的曝光时间为该第一曝光时间,扫描该校正区域时的曝光时间为该第二曝光时间;利用该校正信号求得一第一增益系数,其中该第一增益系数系为经过数位转换后的校正信号在该扫描装置内进行数位转换所能允许的最大增益値;利用所求得的第一增益系数,及该第一曝光时间和该第二曝光时间的特定比例关系,求得一第二增益数;以及利用该第二增益系数放大该扫描信号。6.如申请专利范围第5项所述之透射扫描的校正方法,其中求得一第二增益系数之后更包括下列步骤:判断所求得的第二增益系数是否小于1;当该第二增益系数小于1时,将该第二增益系数设为1。7.如申请专利范围第5项所述之透射扫描的校正方法,其中该第一曝光时间及该第一增益系数相乘后的値等于该第二曝光时间及该第二增益系数相乘后的値。8.如申请专利范围第5项所述之透射扫描的校正方法,其中该透射稿件为正片、负片、反转片或幻灯片。9.如申请专利范围第5项所述之透射扫描的校正方法,其中该光电感测元件取像装置为一电荷耦合元件(CCD)取像装置。10.如申请专利范围第5项所述之透射扫描的校正方法,其中该光电感测元件取像装置在该第一曝光时间及第二曝光时间下都能工作在线性感光范围内。11.一种扫描装置,其包括:一光电感测元件取像系统,其分别利用一第一曝光时间及一第二曝光时间扫描一透射稿件及一校正区域,分别得到一扫描信号及一校正信号;以及一信号处理装置,利用该校正信号求得一第一增益系数,并利用所求得的第一增益系数,及该第一曝光时间和该第二曝光时间的一特定比例关系,求得一第二增益系数,并利用该第二增益系数放大该扫描信号,并转换放大过后的扫描信号成为一数位信号。12.如申请专利范围第11项所述之扫描装置,更包括一设定装置,用以依据待扫描的透射稿件设定该第一曝光时间及该第二曝光时间。13.如申请专利范围第12项所述之扫描装置,其中该透射稿件为负片。14.如申请专利范围第12项所述之扫描装置,其中该设定装置将该第二增益系数设为1。15.如申请专利范围第11项所述之扫描装置,其中该信号处理装置更包括:一增益单元,用以利用该第二增益系数放大该扫描信号;一类比数位转换单元,用以转换放大过后的扫描信号成为该数位信号并且转换该校正信号成为一数位校正信号;以及一控制单元,利用该数位校正信号求得该第一增益系数,并利用所求得的第一增益系数,及该第一曝光时间和该第二曝光时间的特定比例关系,求得该第二增益系数;其中该第一增益系用以放大该数位校正信号到该类比数位转换单元所能允许的最大数位値。16.如申请专利范围第11项所述之扫描装置,其中该信号处理装置会判断所求得的第二增益系数是否小于1,当该第二增益系数小于1时,直接转换该扫描信号成为一数位扫描信号。17.如申请专利范围第11项所述之扫描装置,其中该第一曝光时间及该第一增益系数相乘后的値等于该第二曝光时间及该第二增益系数相乘后的値。18.如申请专利范围第11项所述之扫描装置,其中该透射稿件为正片、反转片或幻灯片。19.如申请专利范围第11项所述之扫描装置,其中该光电感测元件取像系统包括:一灯管,用以将一光束打在该透射稿件及该校正区域上;以及一光电感测元件取像装置,接收和储存该光束打在该透射稿件及该校正区域上的成像。20.如申请专利范围第19项所述之扫描装置,其中该光电感测元件取像装置为一电荷耦合元件(CCD)取像装置。21.如申请专利范围第19项所述之扫描装置,其中该光电感测元件取像装置在该第一曝光时间及第二曝光时间下都能工作在线性感光范围内。22.一种透射扫描的校正方法,用于一扫描装置中,其包括下列步骤:利用一第一曝光时间扫描一透射稿件,以得到一图像资讯;转换该图像资讯成为一数位资料,并分析该数位资料,找出该数位资料之最大値;利用该数位资料之最大値,求得一增益系数,其中该增益系数能放大该数位资料之最大値到在该扫描装置中进行数位转换后所能允许的最大数位値;将该增益系数和该第一曝光时间相乘得到一第二曝光时间;以及利用该第二曝光时间扫描该透射稿件,以得到一扫描信号。23.如申请专利范围第22项所述之透射扫描的校正方法,其中在该扫描装置中进行数位转换后所能允许的最大値为255。24.如申请专利范围第22项所述之透射扫描的校正方法,其中该透射稿件为正片、负片、反转片或幻灯片。图式简单说明:第1a图为习知之扫描器范例的架构图。第1b图在第1a图之扫描器的透光板上放置待扫描稿件范例的示意图。第2图表示利用第1a图之扫描器扫描一透射片所得到的信号。第3图系表示本发明之透射扫描校正方法第一实施例的流程图。第4a图系表示利用第3图之方法的扫描器一实施例的架构图。第4b图在第4a图之扫描器的透光板上放置透射稿件范例的示意图。第5图系表示利用第3图之方法的扫描器另一实施例的架构图。第6图系表示本发明之透射扫描校正方法第二实施例的流程图。 |
