| 主权项 |
1.一种监控与含有一组电子元件的一容器相关的 环境条件之方法,包括: 附加一湿度记录器于此容器上,此湿度记录器包括 一负责回应湿气含量的感测元件,一记忆储存装置 以及一处理器,此处理器与上述感测元件及记忆储 存装置耦接并设定为定时接收来自感测元件的湿 气含量并将所接收之资料储存于记忆储存装置中 。 2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中,包括将 该容器及附加于该容器的环境条件记录器由储存 区运送至组装台以便将该容器中的电子元件安装 至电子组件中。 3.如申请专利范围第2项所述之方法,其中,包括在 组装台上用记忆体读取器来处理记忆储存装置中 的资料。 4.如申请专利范围第3项所述之方法,其中,包括组 装台上的记忆体读取器利用记忆储存装置中的资 料来评估该组电子元件是否适合安装至电子组件 中。 5.如申请专利范围第2项所述之方法,其中,包括在 组装台上将该组电子元件的部份元件由该容器移 出并安装至组件中。 6.如申请专利范围第5项所述之方法,其中,包括将 含有剩余元件的该容器及附加于该容器的环境条 件记录器由组装台运送至储存区。 7.一种在一组单一电子元件安装至电子组件前评 估该组单一电子元件之方法,包括: 在一组单一电子元件安装至电子组件前于连续的 时间区段收集与该单一电子元件有关的环境条件 指示资料; 储存所收集的资料; 利用收集的资料预估该组电子元件曝露于该环境 条件下的效果,并据以评估该组电子元件是否适合 安装至电子组件中;以及 若该组电子元件适合安装至电子组件中,则将该组 电子元件适合安装至电子组件中。 8.如申请专利范围第7项所述之方法,其中,收集环 境条件指示资料包括感测大气湿气含量。 9.如申请专利范围第8项所述之方法,其中,感测大 气湿气含量包括测量环境温度。 10.如申请专利范围第8项所述之方法,其中,感测大 气湿气含量包括测量相对湿度。 11.如申请专利范围第7项所述之方法,其中,储存所 收集的资料包括将所收集的资料重组为相对于时 间轴的图形资料格式。 12.如申请专利范围第7项所述之方法,其中,评估该 组电子元件是否适合安装至电子组件中包括估计 该组电子元件的剩余寿命。 13.如申请专利范围第12项所述之方法,其中,估计该 组电子元件的剩余寿命包括指定一与参考剩余寿 命値有关的参考时间。 14.如申请专利范围第13项所述之方法,其中,该参考 时间被指定作为收集环境条件指示资料的起始点 。 15.如申请专利范围第13项所述之方法,其中,该参考 时间的指定是以烘乾发生的时间为基准。 16.如申请专利范围第13项所述之方法,其中,该参考 时间的指定是以该组电子元件延长曝露在高于预 计温度的情形下的时间为基准。 17.如申请专利范围第13项所述之方法,其中,该参考 时间被指定作为最后一组资料收集的时间。 18.如申请专利范围第12项所述之方法,其中,估计剩 余寿命包括在每一个连续的时间区段计算寿命的 减少量。 19.如申请专利范围第18项所述之方法,其中,估计剩 余寿命包括以每一个连续的时间区段寿命的减少 量为基准,估计总剩余寿命。 20.如申请专利范围第12项所述之方法,其中,剩余寿 命的估计是以相关的温度和相对湿度为基准。 21.如申请专利范围第12项所述之方法,其中,估计剩 余寿命包括与该组电子元件相关的湿度感测程度 。 22.如申请专利范围第12项所述之方法,其中,估计剩 余寿命包括与该组电子元件相关的厚度。 23.如申请专利范围第7项所述之方法,其中,评估该 组电子元件是否适合安装至电子组件中包括整合 一组随时间变化的湿度含量感测値并计算累计的 环境曝露因子。 24.如申请专利范围第7项所述之方法,其中,评估该 组电子元件是否适合安装至电子组件中包括将曝 露于该环境条件下的累计效果与预先定义的可接 受値作比较以决定可靠度因子的估计値。 25.如申请专利范围第7项所述之方法,其中,评估该 组电子元件是否适合安装至电子组件中包括将累 计效果与预先定义的可接受値作比较以决定go/no- go型式的建议。 26.一种含有可安装至电子组件的电子元件之容器, 该容器包括: 一储存装置包括一组电子元件;以及 一环境条件记录器与上述电子元件有关并耦接至 上述储存装置,该环境条件记录器包括一感测元件 用以回应环境条件,一处理器以及一相关的记忆储 存装置,该处理器设定于重覆连续的时间区段内接 收来自感测元件的环境条件指示资料,该处理器累 计处理并储存资料至相关的记忆储存装置中,并以 曝露于该环境条件下的累计效果为基准评估该组 电子元件是否适合安装至电子组件中。 27.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该储存 装置包括一运送封包,该运送封含有至少一卷盘的 单一电子元件。 28.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该储存 装置包括一卷盘,该卷盘含有多种单一电子元件。 29.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该储存 装置包括一储存盒,该储存盒含有多种单一电子元 件。 30.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该储存 装置包括一放置盘,该放置盘含有单一电子元件。 31.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该感测 元件用以回应环境湿气含量。 32.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该环境 条件记录器以可移动方式固定于该储存装置上。 33.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为建立相对于时间轴的图示资料 。 34.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该环境 条件记录器可进一步包括一计时元件而该处理器 根据该计时元件测量的时间区段来接收与储存资 料。 35.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为传输所储存的资料和该电子元 件是否适合安装至组件中的判定到远端装置中。 36.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为估计该组电子元件的剩余寿命 。 37.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为标示一与参考剩余寿命値有关 的参考时间。 38.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为计算每一时间区段的寿命减少 量。 39.如申请专利范围第38项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为以每一时间区段的寿命减少量 为基准计算累计的总剩余寿命。 40.如申请专利范围第36项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为以参考温度値和相对湿度値估 计剩余寿命。 41.如申请专利范围第36项所述之容器,其中,估计剩 余寿命包括考量与该组电子元件有关的湿气感测 程度。 42.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,估计剩 余寿命包括考量与该组电子元件有关的厚度。 43.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为整合一组感测的环境湿气含量 随时间的变化仅以计算一累计的环境曝露因子。 44.如申请专利范围第26项所述之容器,该容器可进 一步包括一发光二极体,此发光二极体与该处理器 耦接并设定用来显示该组电子元件是否适合安装 。 45.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为比较该资料与事先定义的基准 仅以判定一估计的可靠度因子。 46.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该处理 器可进一步设定为传输该组电子元件是否适合安 装的指示资料至远端装置。 47.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该环境 条件记录器是以可移动的方式耦接至该容器,则该 环境条件记录器与其附件可由该容器移至另一容 器。 48.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该电子 元件是要安装至印刷电路板的独立晶片。 49.如申请专利范围第26项所述之容器,其中,该环境 条件记录器是嵌入一金属容器中。 50.一种在安装一组电子元件至电子组件前用来评 估该组电子元件的系统,该系统包括: 一储存装置包括一组单一电子元件; 一环境条件记录器与上述单一电子元件有关并耦 接至上述储存装置,该环境条件记录器设定于重覆 连续的时间区段内收集环境条件的指示资料;以及 一远端装置包括一处理器及一记忆储存单元,其中 该处理器设定接收来自该环境条件记录器的收集 资料并以所收集的资料为基准评估该组电子元件 是否适合安装。 51.如申请专利范围第50项所述之系统,其中,该处理 器可进一步设定为估计该组电子元件的剩余寿命 。 52.如申请专利范围第50项所述之系统,其中,该处理 器可进一步设定为标示一与参考寿命値有关的参 考时间。 53.如申请专利范围第50项所述之系统,其中,该处理 器可进一步设定为计算每一时间区段的寿命减少 量。 54.如申请专利范围第53项所述之系统,其中,该处理 器可进一步设定为以每一时间区段的寿命减少量 为基准计算总剩余寿命。 55.如申请专利范围第51项所述之系统,其中,估计剩 余寿命是以参考温度値和相对湿度値估计剩余寿 命。 56.如申请专利范围第51项所述之系统,其中,估计剩 余寿命包括考量有关该组电子元件的湿气感测程 度与厚度。 57.如申请专利范围第50项所述之系统,其中,该处理 器可进一步设定为整合一组感测的环境湿气含量 随时间的变化値以计算一累计的环境曝露因子。 58.一种电脑可读性媒体,该电脑可读性媒体用来储 存电脑执行指令并启动电脑系统进行下列工作: 接收一组未安装的电子元件其所曝露环境的环境 湿气含量相对于时间的资料; 以环境湿气含量相对于时间的资料其累计效果为 基准评估该组电子元件是否适合安装;以及 输出指示该组电子元件安装至电子组件适合度的 资讯。 59.如申请专利范围第58项所述之电脑可读性媒体, 可进一步包括电脑执行指令,该电脑执行指令用来 启动电脑系统以相对于时间的资料为基准估计该 组电子元件的总剩余寿命。 60.如申请专利范围第58项所述之电脑可读性媒体, 可进一步包括电脑执行指令,该电脑执行指令用来 启动电脑系统以参考寿命相对于时间的资料値来 标示一参考时间。 61.如申请专利范围第58项所述之电脑可读性媒体, 可进一步包括电脑执行指令,该电脑执行指令用来 启动电脑系统以相对于时间的资料所表示的每一 个时间区段来计算寿命减少量。 62.如申请专利范围第61项所述之电脑可读性媒体, 可进一步包括电脑执行指令,该电脑执行指令用来 启动电脑系统以每一个时间区段寿命减少量来计 算累计的总剩余寿命。 63.如申请专利范围第58项所述之电脑可读性媒体, 可进一步包括电脑执行指令,该电脑执行指令用来 启动电脑系统以环境湿气含量相对于时间的感测 値计算一整合函数以标示环境曝露因子。 64.如申请专利范围第63项所述之电脑可读性媒体, 可进一步包括电脑执行指令,该电脑执行指令用来 启动电脑系统以比较该计算所得的环境曝露因子 与一理想环境曝露因子所表现的基准値。 图式简单说明: 第1图评估一组电子元件流程图; 第2A图、第2B图评估一组电子元件的系统方块图; 第3A图至第3E图说明将环境条件感测器耦接至一组 电子元件的技术; 第4图监控与评估一组布于电子组件中的电子元件 之流程图; 第5图以时间函数图示的环境资料; 第6A图、第6B图评估一组电子元件的资料处理流程 图; 第7图表列习知技术的总寿命(floor life)估计资料; 第8图表列习知技术的烘乾条件指示资料; 第9图以时间函数图示的资料说明例。 |
