发明名称 萤光测定装置
摘要 本发明之萤光测定装置使用激励光源,大致同时的测定试料室内之多个试料,或同一试料之多个点。在激励光之照射位置具备有旋转试料台2,在上述之旋转试料台2,于圆周上形成有多个之穿通孔2a,试料设置部3可以插入到该穿通孔2a。使试料台2对激励光之照射位置进行相对移动,即使不更换试料室1内之试料,亦可以进行多个试料之萤光测定。
申请公布号 TWI224189 申请公布日期 2004.11.21
申请号 TW092107082 申请日期 2003.03.28
申请人 大塚电子股份有限公司 发明人 松村义彦;藤村慎二
分类号 G01J3/46;G01N23/00 主分类号 G01J3/46
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路三段三四六号一一一二室;宿希成 台北市松山区南京东路三段三四六号一一一二室
主权项 1.一种萤光测定装置,使用激励光源将激励光照射 在试料室内之试料,用来进行萤光测定,其特征是: 具备有旋转试料台可对激励光之照射位置进行相 对移动,在上述旋转试料台上可设置多个试料于同 心圆上之位置; 设有遮光构件用来限制激励光照射在上述旋转试 料台之范围; 上述遮光构件系与上述旋转试料台及所设置之试 料呈非接触状态而设置。 2.如申请专利范围第1项之萤光测定装置,其中,更 设有显微镜用来限制被设置在上述旋转试料台之 试料之萤光测定范围。 3.如申请专利范围第2项之萤光测定装置,其中,更 具备有标示光投光装置,用来将标示光照射在显微 镜之萤光测定范围。 4.如申请专利范围第1项之萤光测定装置,其中,试 料系设置于可由上述旋转试料台的穿通孔拆卸而 配置之试料设置皿上。 图式简单说明: 图1是概要图,用来表示本发明之试料台旋转型之 萤光测定装置。 图2是扩大斜视图,用来表示试料台2之构造。 图3是试料设置皿3之部份剖面图。 图4是用以覆盖在试料和试料设置皿3之遮光板13之 斜视图。 图5是部份剖面图,用来表示遮光板13之设置状态。 图6是概要图,用来表示试料台平面移动型之萤光 测定装置。 图7是利用CCD摄影机摄得之投影在试料面板上之标 记点,将其显示在监视器一显示装置之画面图。 图8是概要图,用来表示习知之萤光测定装置。
地址 日本