自动测试设备(ATE)记忆体测试器、ATE装置、电脑可读储存媒体及用于测试晶粒封装的方法

摘要

新颖特征系关于一种自动测试设备(ATE)记忆体测试器，其包括一负载板、一投影场电磁体、一定位机构及一记忆体测试器。该负载板用于耦接至包括具有若干胞元之一磁阻随机存取记忆体(MRAM)的一晶粒封装，其中每一胞元包括一磁性穿隧接面(MTJ)。该投影场电磁体用于将一磁场的一部分施加至该MRAM上。该磁场的该部分可为实质上均一的。该定位机构耦接至该电磁体及该负载板，且经组态以在该晶粒封装耦接至该负载板时垂直围绕(上方/下方)该晶粒封装定位该电磁体。该记忆体测试器耦接至该负载板。该记忆体测试器用于在该磁场之该实质上均一部分施加至该MRAM上时测试该MRAM。

主权项

一种自动测试设备(ATE)记忆体测试器，其包含：一负载板，其用于耦接至包括一磁阻随机存取记忆体(MRAM)之一晶粒封装；一投影场电磁体，其用于将一磁场之一部分施加至该晶粒封装的该MRAM上，该磁场之该部分系实质上均一的；一定位机构，其耦接至该电磁体及该负载板，该定位机构经组态以在该晶粒封装耦接至该负载板时垂直围绕该晶粒封装定位该电磁体；及一记忆体测试器，其耦接至该负载板，该记忆体测试器用于在该磁场之该实质上均一部分施加至该MRAM上时测试该晶粒封装中的该MRAM；其中该负载板包括一插座，该插座用于耦接至该晶粒封装，该插座包括一尺寸，该插座之该尺寸在该晶粒封装耦接至该插座时指定该电磁体与该晶粒封装之间的一最小距离。