发明名称 一种于具自动对准接触窗机构的基材上形成电容器的方法
摘要 一种于具自动对准接触窗机构的基材上形成电容器的方法,该基材至少包含两个字元机构与一主动区域,该方法至少包含以下步骤:形成一第一介电层;形成一接触洞于该介电层之中;形成一导电层于该接触洞的底部;形成一多晶硅间隙壁;形成一介电间隙壁;填满该接触洞;形成三个次接触洞;形成一半球型硅晶粒层于该次接触洞的表面;形成第二介电层;及形成一上电极于该第二介电层之上。由此而能增加电容器储存电荷的能力。
申请公布号 CN1176489C 申请公布日期 2004.11.17
申请号 CN00124520.1 申请日期 2000.09.15
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 曾鸿辉
分类号 H01L21/70;H01L21/8242;H01L27/108 主分类号 H01L21/70
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 李树明
主权项 1.一种于具自动对准接触窗机构的基材上形成电容器的方法,该基材至少包含两个字元结构与一主动区域,该方法至少包含以下步骤:形成一具有平坦上表面的第一介电层于该字元结构与该主动区域上;形成一接触洞于该介电层之中,以曝露部份该字元机构与该主动区域;形成一导电层于该接触洞的底部;形成一多晶硅间隙壁于该接触洞的侧壁上;形成一介电间隙壁于该多晶硅间隙壁的侧壁上;填满该接触洞,其是以多晶硅棒完成;形成三个次接触洞,其是利用回蚀该多晶硅间隙壁与该多晶硅棒而完成,并留有部份该多晶硅间隙壁与该多晶硅棒于该次接触洞的底部;形成一半球型硅晶粒层于该次接触洞的表面;形成第二介电层于该半球型硅晶粒层之上;及形成一上电极于该第二介电层之上。
地址 中国台湾