发明名称 准直测量装置
摘要 本发明涉及一种激光准直装置,尤其是测量孔轴两种情况的位移准直测量装置。准直测量装置,其特征是:它由发射器(2)、接受器(3)和测量架构成,发射器(2)、接受器(3)分别安装在各自的测量架的L形底架(1)上,且他们的光轴平行于各自的L形底架(1)的底座,且同步旋转,发射器的光源(33)、挡光板(40)的小孔(37)和镜头(58)依次在同一光轴上,接受器(3)的二维位置光学测量器件(24)与镜头(58)在同一光轴上,接受器(3)的二维位置光学测量器件(24)由信号线(68)与计算机(36)相连接,计算机有显示激光照射的光斑的偏移位置二维坐标显示框。本发明既能测量两个孔或两个轴之间的相对偏移又能测量偏移角。
申请公布号 CN1546945A 申请公布日期 2004.11.17
申请号 CN200310111549.X 申请日期 2003.12.10
申请人 武汉理工大学 发明人 吕植勇;陶德馨;肖汉斌
分类号 G01B11/27 主分类号 G01B11/27
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人 唐万荣
主权项 1.准直测量装置,其特征是:它由发射器(2)、接受器(3)和测量架构成,发射器(2)、接受器(3)分别安装在各自的测量架的L形底架(1)上,且他们的光轴平行于L形底架(1)的底座,发射器的光源(33)、挡光板(40)的小孔(37)和镜头(58)依次在同一光轴上,接受器(3)的二维位置光学测量器件(24)与镜头(58)在同一光轴上,在测量时它们同步旋转同样的角度,接受器(3)的二维位置光学测量器件(24)由信号线(68)与计算机(36)相连接,计算机有显示准直仪发射器的激光照射的光斑的偏移位置二维坐标显示框。
地址 430072湖北省武汉市洪山区珞狮路122号