发明名称 | 以使用Bragg光栅对为基础的差分测量系统 | ||
摘要 | 一种系统,其包括至少一个光学传感器(C<SUB>1</SUB>,C<SUB>2</SUB>,C<SUB>3</SUB>),传感器包括刻写在两个光学波导中的两个Bragg光栅(B<SUB>11</SUB>,B<SUB>12</SUB>;B<SUB>21</SUB>,B<SUB>22</SUB>;B<SUB>31</SUB>,B<SUB>32</SUB>),它们有可以调节的灵敏度,使得两个光栅的各自光谱有相对的光谱移动,这些光谱移动依赖于要测量的参数。该系统也包括光源(6),设置它是为了将光提供给两个光学波导,以便对后者进行访问,还包括使得光可以接续地通过同一传感器的两个Bragg光栅的装置,包括光探测器,这些光探测器为的是一方面测量仅只通过了两个光学波导中的一个的光功率水平(R<SUB>1</SUB>),在另一方面测量接续地通过了两个光学波导的光功率水平(R’<SUB>1</SUB>),还包括处理这些光信号并且提供所测参数的数值的装置。本发明特别地可以用于测量温度,应力和压力。 | ||
申请公布号 | CN1547659A | 申请公布日期 | 2004.11.17 |
申请号 | CN02816491.1 | 申请日期 | 2002.06.03 |
申请人 | 法国原子能委员会 | 发明人 | C·马丁内斯;P·费迪南 |
分类号 | G01D5/252;G01L1/24 | 主分类号 | G01D5/252 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 崔幼平 |
主权项 | 1.一种用来测量至少一个参数的系统,该系统包括至少一个光学传感器(C1,C2,C3),该系统的特征在于,每个传感器包括两个Bragg光栅,这些Bragg光栅(B11-B12,B21-B22,B31-B32)有相应的灵敏度,可以调节这些灵敏度使得两个光栅的相应的光谱有相对的光谱移动,这些光谱移动依赖于要测量的一个或多个参数,在两个光学波导(3,5;44,46)中分别刻写出这些Bragg光栅,该系统还包括光源(6),设置它是为了将光提供给两个光学波导,以便对后者进行访问;使光可以接续地通过同一传感器的两个Bragg光栅的装置;光探测器,这些光探测器为的是一方面测量仅只通过了两个光学波导中的一个波导的光的功率水平(R1),而在另一方面测量接续地通过了两个光学波导的光的功率水平(R’1);以及处理这些光功率水平并且提供所测一个或多个参数的数值的装置。 | ||
地址 | 法国巴黎 |