发明名称 矽倍半氧烷树脂,正型光阻组成物,光阻层合物及光阻图型之形成方法
摘要 本发明为提供一种可降低脱气现象之矽倍半氧烷树脂,正型光阻组成物,光阻层合物及光阻图型之形成方法,及适合浸渍微影(immersion lithogaphy)处理步骤之含矽光阻组成物及光阻图案之形成方法。上述矽倍半氧烷树脂,为具有下式所示结构单位者;093104804-p01.bmp(式中,R^1与R^2各自独立为直链状、支链状或环状之饱合脂肪族烃基;R^3为含有单环或多环式基之羟基所得之酸解离性溶解抑制基;R^4为氢原子,或直链状、支链状或环状烷基;X为至少1个氢原子被氟原子取代之碳数1至8之烷基;m为1至3之整数)。093104804-p01.bmp
申请公布号 TW200424770 申请公布日期 2004.11.16
申请号 TW093104804 申请日期 2004.02.25
申请人 东京应化工业股份有限公司 发明人 中村刚;田村弘毅;山田知孝;平山拓;川名大助;细野隆之
分类号 G03F7/039 主分类号 G03F7/039
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本