发明名称 | 侧壁保护之选择性蚀刻方法及应用该方法所组成之结构 | ||
摘要 | 本案关于一种侧壁保护之选择性蚀刻方法,其系包含下列步骤:(a)提供一基板;(b)形成一第一遮罩层于该基板上;(c)形成一第二遮罩层于该第一遮罩层上;(d)形成一光阻层于该第二遮罩层上,而于基板上形成复数个蚀刻窗;(e)进行第一次蚀刻,以使该复数个蚀刻窗向下延伸至部分该基板;(f)进行第二次蚀刻以移除该光阻层,并向下蚀刻该基板以形成不同深度之深槽结构;(g)形成一侧壁补强结构于不同深度之深槽结构的周边;(h)进行第三次蚀刻以移除第二遮罩层,并去除底部之该侧壁补强结构以形成一下结构;以及(i)进行侧向蚀刻,藉以释放一上结构。 | ||
申请公布号 | TW200425323 | 申请公布日期 | 2004.11.16 |
申请号 | TW092112374 | 申请日期 | 2003.05.06 |
申请人 | 华新丽华股份有限公司 | 发明人 | 谢哲伟;朱怀远;蔡明霖;方维伦 |
分类号 | H01L21/306 | 主分类号 | H01L21/306 |
代理机构 | 代理人 | 蔡清福 | |
主权项 | |||
地址 | 台北市松山区民生东路三段一一七号十二楼 |