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微影制程中交替相移式光罩之侦测相位/振幅误差的方法及系统
摘要
一种侦测交替相移式光罩之相位及振幅误差的方法。在实施例中,该方法包含将一平行光束穿过相移式光罩的一组相邻、相位移动开孔。随后,以角度位置的函数纪录穿过该组相邻开孔的绕射光线的光束强度。针对该纪录光束强度,决定在第一绕射级数及第二绕射级数发生时的角度α,其中α系代表来自一组对称分布绕射级数的变异。再者,最小强度及最大强度系由该纪录光束强度决定,其中该相位误差系由所决定α的数值计算而得,而且该振幅误差系由最小强度及最大强度计算而得。
申请公布号
TW200424811
申请公布日期
2004.11.16
申请号
TW092129816
申请日期
2003.10.27
申请人
万国商业机器公司
发明人
吴强;普可夫斯基史考特
分类号
G03F9/00
主分类号
G03F9/00
代理机构
代理人
蔡坤财
主权项
地址
美国
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