发明名称 晶圆、曝光光罩、侦测标示之方法及曝光之方法
摘要 本发明系揭示一种晶圆、曝光光罩、侦测校准标示之方法及曝光方法,其可改良该校准的准确度,以及该晶圆与曝光光罩间之间隙校正。木发明提供之晶圆具有一校准标示(晶圆标示),其具有之边缘在接近曝光期间使校准用检查光散布在一曝光表面,该晶圆标示特征为具有点图案群,其由配置于预设方向之点图案所构成。藉由以排列间隔P2于方向X中排列点图案,而配置该点图案群,排列间隔P2宽于点图案之排列间隔P1。此外,亦提供一曝光光罩,其用于类似接近曝光中,具有校准标示作为光罩标示,该标示具有与该等晶圆标示类似之配置。
申请公布号 TW200425272 申请公布日期 2004.11.16
申请号 TW093108692 申请日期 2004.03.30
申请人 新力股份有限公司 发明人 纳土晋一郎
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本
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