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发明名称
检测晶粒上电压变化之方法与装置
摘要
晶粒上电压及/或频率检测器。关于一论点上,一组适应式频率时脉产生电路包含一组衰减检测器以检测一供应电压位准且因此导致晶粒上时脉信号频率被调整。
申请公布号
TW200424543
申请公布日期
2004.11.16
申请号
TW093103316
申请日期
2004.02.12
申请人
英特尔公司
发明人
库德 拿瑟;巴卡杜拉 贾维德
分类号
G01R31/302;G01R31/26
主分类号
G01R31/302
代理机构
代理人
恽轶群;陈文郎
主权项
地址
美国
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