发明名称 | 利用高温含氢电浆由处理室及晶圆表面移除物质的方法与设备 | ||
摘要 | 本发明系提供一种清洁处理室及晶圆表面之方法与设备。此方法是使用一氢气和惰性气体之气体混合物,譬如一氢含量介于20%到80%体积百分比之气体混合物,将此气体混合物供给到一半导体晶圆处理设备中的处理室里,及使用在不施加偏压于被清洁之晶圆表面的情况下,在此气体混合物里仅产生一高密度电浆之电感耦合电浆源。在本发明的例子里,矽及二氧化矽污染物或氟化碳污染物,在进行后续金属沉积制程之前,便从矽接点上被清除。在本发明的另一个例子里,矽残留污染物,在进行氧化物蚀刻制程之前,便从半导体晶圆处理室内部表面被移除,使氧化物蚀刻速率能回复到正常位准。 | ||
申请公布号 | TW200425331 | 申请公布日期 | 2004.11.16 |
申请号 | TW093101011 | 申请日期 | 2004.01.15 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 根本 隆尚;艾曼纽 古得堤;葛雷特 卢森克 |
分类号 | H01L21/3065;H05H1/00 | 主分类号 | H01L21/3065 |
代理机构 | 代理人 | 周良谋;周良吉 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |