发明名称 利用高温含氢电浆由处理室及晶圆表面移除物质的方法与设备
摘要 本发明系提供一种清洁处理室及晶圆表面之方法与设备。此方法是使用一氢气和惰性气体之气体混合物,譬如一氢含量介于20%到80%体积百分比之气体混合物,将此气体混合物供给到一半导体晶圆处理设备中的处理室里,及使用在不施加偏压于被清洁之晶圆表面的情况下,在此气体混合物里仅产生一高密度电浆之电感耦合电浆源。在本发明的例子里,矽及二氧化矽污染物或氟化碳污染物,在进行后续金属沉积制程之前,便从矽接点上被清除。在本发明的另一个例子里,矽残留污染物,在进行氧化物蚀刻制程之前,便从半导体晶圆处理室内部表面被移除,使氧化物蚀刻速率能回复到正常位准。
申请公布号 TW200425331 申请公布日期 2004.11.16
申请号 TW093101011 申请日期 2004.01.15
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 根本 隆尚;艾曼纽 古得堤;葛雷特 卢森克
分类号 H01L21/3065;H05H1/00 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本