发明名称 | 万用串列滙流排(USB)埠之测试方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种USB埠测试方法,系用于测试主机的 USB埠的运作情况,主机的USB埠通过该介面电路与该测试电路中的测试晶片相互通讯,首先载入USB设备驱动程式;然后搜寻USB设备,并确定其数目;再依次读取该设备配置讯息;最后根据该读取结果,判断USB埠的运作情况,本发明使用简单的硬体电路来测试这些联机的好坏,无须使用USB装置,可大大节约成本,同时也避免了因USB装置工作不正常,而造成的判断上的错误。 | ||
申请公布号 | TWI223745 | 申请公布日期 | 2004.11.11 |
申请号 | TW091125297 | 申请日期 | 2002.10.25 |
申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 刘文涵;宋建福;王震 |
分类号 | G06F11/36 | 主分类号 | G06F11/36 |
代理机构 | 代理人 | 许世正 台北市信义区忠孝东路五段四一○号四楼 | |
主权项 | 1.一种USB埠测试方法,系利用至少一USB设备,测试一主机的至少一USB埠的运作情况,包括如下步骤:根据该USB埠连接至该USB设备之一介面电路,该主机载入该USB设备之驱动程式;搜寻该USB设备,并确定其数目;依次透过该USB设备中之一测试电路,读取各该USB埠之一配置讯息;及根据该配置讯息之一读取结果,判断各该USB埠之运作情况。2.如申请专利范围第1项所述之USB埠测试方法,其中该读取结果若为正常,则确认该USB埠运作正常。3.如申请专利范围第1项所述之USB埠测试方法,其中该读取结果若为不正常,则确认该USB埠运作不正常。4.如申请专利范围第1项所述之USB埠测试方法,其中该测试电路电性连接于该介面电路,并系由一测试晶片及其周边元件所组成。5.如申请专利范围第4项所述之USB埠测试方法,其中该测试晶片系为AN2136SC晶片。图式简单说明:第1图为本发明之USB埠测试方法之流程图;及第2图为本发明之USB埠测试装置之结构图。 | ||
地址 | 台北市士林区后港街六十六号 |