发明名称 双点斜率控制之缩放方法及其装置
摘要 一种双点斜率控制之缩放方法,系用以将来源资料缩放处理成目的资料,两个参考资料f(0)和f(1),以二次方程式f(x)=ax2+bx+c描述等参考资料f(0)和f(1)间之目的资料。首先,设定一斜率因数D=[f(1)-f(0)]和一增益因数 G,令f'(0)和f'(1)中之一者等于乘积值DG。接着,加上 f(0)与f(1)之限定,解出f(x)之a、b、c之值,并以f(x)描述0≦x<1范围之目的资料。
申请公布号 TWI223781 申请公布日期 2004.11.11
申请号 TW092101093 申请日期 2003.01.20
申请人 晨星半导体股份有限公司 发明人 郑昆楠
分类号 G06T3/20 主分类号 G06T3/20
代理机构 代理人 王盛勇 台北市大安区复兴南路一段二三九号十三楼
主权项 1.一种缩放方法,用以将来源资料缩放处理成目的资料,两个参考资料f(0)和f(1),以二次方程式f(x)=ax2+bx+c描述该等参考资料f(0)和f(1)间之该目的资料;该缩放方法包括:设定一斜率因数D=[f(1)-f(0)]和一增益因数G,令f ' (0)和f ' (1)中之一者等于乘积値DG;以及加上f(0)与f(1)之限定,解出f(x)之a、b、c之値,并以f(x)描述0≦x<1范围之该目的资料。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中,若f ' (0)=DG,则:f ' (0)=b=DG;f(0)=c;f(1)=a+b+c;可得f(x)=[f(1)-f(0)-DG]x2+DGx+f(0)。3.如申请专利范围第2项所述之方法,其中,该增益因数G大于等于零。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中,若f ' (1)=DG,则:f ' (1)=2a+b=DG;f(0)=c;f(1)=a+b+c;可得f(x)=[f(0)+DG-f(1)]x2[2f(1)-2f(0)-DG]x+f(0)。5.如申请专利范围第4项所述之方法,其中,该增益因数G大于等于零。6.如申请专利范围第1项所述之方法,尚包括针对该来源资料之下两个参考资料进行缩放处理,直至产生所有目的资料。7.一种缩放装置,用以将来源资料缩放处理成目的资料,两个参考资料f(0)和f(1),以二次方程式f(x)=ax2+bx+c描述该等参考资料f(0)和f(1)间之该目的资料;该缩放装置包括:一初始化单元,系用以设定一斜率因数D=[f(1)-f(0)]和一增益因数G,令f ' (0)和f ' (1)中之一者等于乘积値DG;以及一缩放单元,系根据加上f(0)与f(1)之限定,解出f(x)之a、b、c之値,并以f(x)描述0≦x<1范围之该目的资料,而f(x)系选自下列方程式中之一者:f(x)-[f(1)-f(0)-DG]x2+DGx+f(0);以及f(x)=[f(0)+DG-f(1)]x2+[2f(1)-2f(0)-DG]x+f(0)。8.如申请专利范围第7项所述之装置,其中,若f ' (0)=DG,则:f ' (0)=b=DG;f(0)=c;f(1)=a+b+c;可得f(x)=[f(1)-f(0)-DG]x2+DGx+f(0)。9.如申请专利范围第7项所述之方法,其中,若f ' (1)=DG,则:f ' (1)=2a+b=DG;f(0)=c;f(1)=a+b+c;可得(x)=[f(0)+DG-f(1)]x2+[2f(1)-2f(0)-DG]x+f(0)。10.一种缩放方法,系根据两个来源取样资料f(0)和f(1)产生目标取样资料f(x),而目标取样资料f(x)系位于0≦x<1范围内;该缩放方法包括:(a)以二次方程式f(x)=ax2+bx+c适应该等来源取样资料f(0)和f(1);以及(b)针对范围0≦x<1产生一结果方程式f(x)=[f(1)-f(0)-DG]x2+(DG)x+f(0),其中,DG値代表该等来源取样资料f(0)处之一斜率値。11.一种缩放方法,系根据两个来源取样资料f(0)和f(1)产生目标取样资料f(x),而目标取样资料f(x)系位于0≦x<1范围内;该缩放方法包括:(a)以二次方程式f(x)=ax2+bx+c适应该等来源取样资料f(0)和f(1);以及(b)针对范围0≦x<1产生一结果方程式f(x)=[f(0)+DG-f(1)]x2+[2f(1)-2f(0)-DG]x+f(0),其中,DG値代表该等来源取样资料f(1)处之一斜率値。图式简单说明:第一图所示为根据本发明利用双点斜率控制(DPSC)之缩放方法所产生之曲线示意图;第二图所示为根据本发明方法采不同斜率値所获致之曲线示意图;第三图系显示根据本发明方法在缩放因数为0.75之示意图;以及第四图系显示根据本发明方法应用于二维物件之示意图。
地址 新竹县竹北市台元街二十六号四楼之一