发明名称 高感度应用测试制具组装程序改良装置
摘要 本创作系有关一种高感度应用测试制具组装程序改良装置,主要系于测试基板之上部设以一转接板,具有模式化之共通电路,提供于上部再组装以特定之IC测试板,以有效测试特定之IC板,即利用同一制具装置,便可适用于测试各种不同IC板之良率,无须麻烦之更换程序,深具实用价值者。
申请公布号 TWM250152 申请公布日期 2004.11.11
申请号 TW093206188 申请日期 2002.09.17
申请人 追日润股份有限公司 发明人 罗世希
分类号 G01R31/02;G01R1/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项 一种高感度应用测试制具组装程序改良装置,包括 有一支撑框架,铝框及支撑座,以同时检测许多组IC 板者;其特征在于设有一测试基板于支撑座上,其 内部以电线连接于电脑主机;另于测试基板上系设 以一转接板,该转接板具有上下电路线路,可将测 试电路转换为模式化之共通电路,而IC测试板乃可 置放于转接板之上部,形成导通,使IC定位座所组合 之IC板放置于IC测试板上部后,完成检测效果者。 图式简单说明: 图一为习知IC板测试制具装置局部立体图 图二为图一之分解图 图三为本创作之使用状态平面图 图四为图二之侧视图 图五为本创作之局部立体图 图六为图五之分解图
地址 新竹市东光路一九二号八楼之二