| 发明名称 | 测量激光测高仪/测距仪测距能力的设备和方法 | ||
| 摘要 | 一种测量激光测高仪测距能力的设备，其特征在于其构成是：沿该激光测高仪的激光发射系统发出的激光束前进方向依次包括透反镜、反射镜、衰减器、模拟目标，在透反镜的透射方向设有能量计；透反镜与光束成45°，反射镜与光束成45°，且二者的作用是将激光测高仪所发出的激光光束折转，使之与激光测高仪的激光接收系统同轴；还有波形显示系统。本发明具有设备简单、操作方便、室内测试、不受外界环境影响和测量精度高等优点。 | ||
| 申请公布号 | CN1544915A | 申请公布日期 | 2004.11.10 |
| 申请号 | CN200310108724.X | 申请日期 | 2003.11.20 |
| 申请人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明人 | 苏嵘;张海洪;胡以华;方抗美;陈育伟 |
| 分类号 | G01N21/00 | 主分类号 | G01N21/00 |
| 代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
| 主权项 | 1、一种测量激光测高仪测距能力的设备，其特征在于其构成是：沿该激光测高仪(7)的激光发射系统(71)发出的激光束前进方向依次包括透反镜(1)、反射镜(2)、衰减器(4)、模拟目标(5)，在透反镜(1)的透射方向设有能量计(3)；透反镜(1)与光束成45°，反射镜(2)与光束成45°，且二者的作用是将激光测高仪(7)所发出的激光光束折转，使之与激光测高仪(7)的激光接收系统(72)同轴；还有波形显示系统(6)。 | ||
| 地址 | 200083上海市虹口区玉田路500号 | ||