发明名称 一种嵌入式分布系统的性能测量数据采集方法
摘要 本发明公开了一种嵌入式分布系统的性能测量数据采集方法,包括以下处理步骤:第一步:主从处理机初始化;第二步:主处理机开始采集性能数据并分别向各从处理机发送采集命令;第三步:各从处理机采集性能数据并组包向主处理机发送;第四步:主处理机备份本周期的所有采样数据,并将统一缓冲区清零,开始下一周期的测量计数;第五步:若主处理机上的向后台上报定时器T3超时,则主处理机对T3周期内的所有采样数据进行统计计算后发送到后台,再转到第二步,否则直接转到第二步。采用本发明所述方法,与现有技术相比,提高了嵌入式分布系统的稳定性、数据传输的可靠性,降低了对其他业务模块的影响。
申请公布号 CN1545259A 申请公布日期 2004.11.10
申请号 CN200310113606.8 申请日期 2003.11.13
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 彭德权
分类号 H04L12/26;H04L12/24;H04M3/22 主分类号 H04L12/26
代理机构 北京金硕果知识产权代理事务所 代理人 张玫
主权项 1.一种嵌入式分布系统的性能测量数据采集方法,其特征在于,所述方法包括以下处理步骤:第一步:主从处理机初始化;主处理机开设统一缓存区,并开始主处理机上的测量计数,直接写统一缓存;从处理机增加测量数据上报进程,并开始从处理机上的测量计数,所述上报进程优先级低;第二步:主处理机开始采集性能数据并分别向各从处理机发送采集命令;第三步:各从处理机采集性能数据并组包向主处理机发送;第四步:主处理机备份本周期的所有采样数据,并将统一缓冲区清零,开始下一周期的测量计数;第五步:若主处理机上的向后台上报定时器T3超时,则主处理机对T3周期内的所有采样数据进行统计计算后发送到后台,再转到第二步,否则直接转到第二步。
地址 518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部