发明名称 |
具有基底接触的绝缘层上有硅的结构 |
摘要 |
本发明公开了一种具有基底接触的绝缘层上有硅的结构,包括一绝缘层上有硅的基底,而基底上具有一绝缘层,绝缘层上具有一硅层,硅层上形成有一栅极,且栅极侧边的硅层中分别形成一源极区与一漏极区,而在绝缘层与硅层的界面提供一基底接触,其中较佳的基底接触系位于源极区与栅极之间的绝缘层中。通过在绝缘层与硅层之间提供基底接触而降低颈结与基底效应等,以改善绝缘层上有硅芯片的组件特性。 |
申请公布号 |
CN1175494C |
申请公布日期 |
2004.11.10 |
申请号 |
CN01110319.1 |
申请日期 |
2001.04.03 |
申请人 |
华邦电子股份有限公司 |
发明人 |
林泓均;王是琦 |
分类号 |
H01L27/12;H01L29/78;H01L21/84 |
主分类号 |
H01L27/12 |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王学强 |
主权项 |
1.一种具有基底接触的绝缘层上有硅的结构,适用在一基底上,其特征在于包括:一绝缘层,位于该基底之上;一硅层,位于该绝缘层之上;一栅极,位于该硅层上;一源极区,位于该栅极的一边的该硅层中;一漏极区,位于该栅极的另一边的该硅层中;一基底接触,位于该源极区与该栅极之间的该绝缘层与该硅层接口。 |
地址 |
台湾新竹科学工业园区研新三路四号 |