发明名称 Method of characterizing a semiconductor surface
摘要
申请公布号 US6816806(B2) 申请公布日期 2004.11.09
申请号 US20010871287 申请日期 2001.05.31
申请人 VEECO INSTR INC 发明人 KOCIMSKI STANISLAW M
分类号 B24B37/04;B24B49/00;G01Q30/04;(IPC1-7):G06F15/00 主分类号 B24B37/04
代理机构 代理人
主权项
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