| 发明名称 |
Calibration and alignment of X-ray reflectometric systems |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
US2004218717(A1) |
申请公布日期 |
2004.11.04 |
| 申请号 |
US20040861120 |
申请日期 |
2004.06.04 |
| 申请人 |
KOPPEL LOUIS N;UHRICH CRAIG E;OPSAL JON |
发明人 |
KOPPEL LOUIS N;UHRICH CRAIG E;OPSAL JON |
| 分类号 |
G01N23/20;(IPC1-7):G01N23/20;G01N23/201 |
主分类号 |
G01N23/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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