发明名称 |
光盘写入功率校正时决定试写结果参数的方法及相关装置 |
摘要 |
本发明提供一种于光盘写入功率最佳化的校正过程中计算试写结果参数(即beta参数)的方法及相关装置。该方法包含有:在光盘写入功率校正的过程中,在试写数据中编入多个具有特定内容的第一数据序列及第二数据序列,并将试写数据以一预设功率写入至光盘上的试写区,然后读取写入至光盘的试写数据,再将对应的读取结果进行高通滤波。由于第一数据序列具有特定内容,故可在滤波后的读取结果中检测出对应该第一数据序列的部份,并只根据该部分来计算该试写结果参数,代表光驱以该预设功率写入数据的效果。 |
申请公布号 |
CN1542764A |
申请公布日期 |
2004.11.03 |
申请号 |
CN200410032582.8 |
申请日期 |
2004.04.09 |
申请人 |
威腾光电股份有限公司 |
发明人 |
萧原坤 |
分类号 |
G11B7/0045 |
主分类号 |
G11B7/0045 |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
蒲迈文;黄小临 |
主权项 |
1.一种进行光盘写入功率校正的方法,根据一试写结果参数决定一预设功率是否是将数据写入至一光盘的较佳功率;该方法包含有:设定一试写数据,该试写数据中包含有至少一第一数据序列及至少一第二数据序列;在以该预设功率将该试写数据写入该光盘后,由该光盘上读取该试写数据并产生一对应的读取结果;该读取结果中有一第一读取讯号及一第二读取讯号,分别对应于该第一数据序列及该第二数据序列;以及进行一估算步骤,根据该第一读取讯号中讯号电平大于及小于一预设电平的部份来累计该试写结果参数,而不根据该第二读取结果来累计该试写结果参数。 |
地址 |
台湾省台北县 |