决定内存模块修补方案之方法及测试装置

摘要

在一测试系统中决定一内存模块之修补方案之方法，内存模块之内存区域被连续地测试以获得，对于每一内存区域，一缺损数据，其指出是否相关的内存区域为有缺陷的，其中缺损地址，其缺损数值指出内存模块之有缺陷的内存区域，系自从内存区域之地址以及相关连的缺损数据被产生，缺损地址被储存于测试系统中，修补方案从被储存的缺损地址而决定。

主权项

1.一种用以决定在一测试系统中一内存模块(21)之修补方案的方法，记忆模块(21)之内存区域为了获得而被连续测试，对于每一内存区域，具体指出是否相应的内存区域为有缺陷的一缺损数据，其中缺损地址(FA)，其地址值具体指出该内存模块之有缺陷的内存区域，系自记忆区域之地址及相关连缺损数据被产生，该缺损地址(FA)被储存在该测试系统中，该修补方案自该被储存的缺损地址(FA)被决定。