发明名称 半导体存储器芯片
摘要 半导体存储器芯片(100)包括含有待测试的存储器元件的存储器阵列。图案发生器(112)提供待输入并存储在存储器阵列中的参考数据。在存储器芯片上形成比较来自图案发生器的参考数据与来自存储器阵列的存储数据的比较器(110)。比较器还包括:执行比较操作并提供比较结果的逻辑电路(134);接收比较结果的多个锁存器(152),其第一态与匹配态相关联,若接收到非匹配态,则第一态变为第二态;存储和输出锁存器的第一和第二态以便提供测试结果的寄存器(160)。
申请公布号 CN1174426C 申请公布日期 2004.11.03
申请号 CN00108677.4 申请日期 2000.05.17
申请人 因芬尼昂技术北美公司 发明人 G·弗兰科夫斯基
分类号 G11C11/00;G11C29/00 主分类号 G11C11/00
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 吴增勇;张志醒
主权项 1.一种半导体存储器芯片,它包括:存储器阵列,它包括要测试的存储器元件和用于取代有缺陷的存储器元件的冗余,每个冗余都包括一组存储器元件;图案发生器,用于提供待输入到并存储在所述存储器阵列中的参考数据;和在所述存储器芯片上形成的比较器,用于把来自所述图案发生器的所述参考数据与来自所述存储器阵列的所存储的数据进行比较,所述比较器进一步包括:逻辑电路,用于比较所述参考数据与来自所述存储器阵列的所存储的数据,以便提供比较结果:如果所存储的数据与所述参考数据吻合,则给出匹配状态的比较结果,否则给出非匹配状态的比较结果;多路复用单元,用于接收所述比较结果,并压缩所述比较结果,以便提供冗余兼容数据压缩,从而与元件组中的任何元件有关的任何非匹配状态都允许用与该组元件有相同尺寸的冗余来取代;多个锁存器,用来接收来自所述多路复用单元的所述比较结果,所述锁存器的第一态与所述匹配状态相关联,其中,如果从所述逻辑电路接收到所述非匹配状态,则所述第一态变为第二态;寄存器,用来存储和输出所述锁存器的所述第一和第二态,以便提供测试结果。
地址 美国加利福尼亚州