| 发明名称 | 一种使用CR电路测试集成电路内部电容的方法 | ||
| 摘要 | 本发明为一种利用CR电路测试集成电路内部电容的方法。具体是在测试输入输出端之间搭载一个由电阻R1和电容C0组成的CR电路，分别测试并联待测电容Cx前、后的电压—时间曲线，然后由式Cx＝(Tx－T0)/(R0+R1)计算得电容Cx值。本发明方法测试电路简单，测试精度符合测试要求。 | ||
| 申请公布号 | CN1542457A | 申请公布日期 | 2004.11.03 |
| 申请号 | CN200310108504.7 | 申请日期 | 2003.11.07 |
| 申请人 | 爱德万测试（苏州）有限公司上海分公司 | 发明人 | 浜岛明;刘旸 |
| 分类号 | G01R27/26;G01R31/28 | 主分类号 | G01R27/26 |
| 代理机构 | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人 | 陆飞;沈云 |
| 主权项 | 1、一种利用CR电路测试集成电路内部电容的方法，其特征在于在测试输入输出端之间搭载一个由电阻R1和电容C0组成的CR电路，先测试得未加待测电容Cx时的电压-时间曲线，再测试获得并联待测电容Cx后的电压-时间曲线，并由下式计算获得Cx：Cx＝(Tx-T0)/(R0+R1) (3)这里To＝(R0+R1)·C0 (1) | ||
| 地址 | 200233上海市桂平路555号46号楼5楼 | ||