发明名称 | 浅沟槽隔离的制造方法 | ||
摘要 | 一种浅沟槽隔离结构的制造方法。在一基底中形成一沟槽结构,并在沟槽中形成一绝缘插塞,使绝缘插塞具一部分突出于基底表面之上,再于突出部分的侧壁形成一硅材料间隙壁。然后,再将硅材料间隙壁氧化成氧化硅间隙壁,以形成一浅沟槽隔离结构。 | ||
申请公布号 | CN1174476C | 申请公布日期 | 2004.11.03 |
申请号 | CN00130657.X | 申请日期 | 2000.10.09 |
申请人 | 世界先进积体电路股份有限公司 | 发明人 | 曾鸿辉 |
分类号 | H01L21/76 | 主分类号 | H01L21/76 |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波 |
主权项 | 1.一种浅沟槽隔离结构的制造方法,该方法包括:提供一基底;于该基底上形成一衬垫氧化层;于该基底上形成一硬掩模层;去除部分该硬掩模层、该衬垫氧化层及该基底,以在该基底中形成一沟槽;形成一衬氧化层,其沿着该沟槽的表面成长;于该硬掩模层上形成一绝缘层,并回填该沟槽;回蚀该绝缘层,并以该硬掩模层为蚀刻终止层;去除该硬掩模层,以形成一绝缘插塞,其具有一突出部分,高于该基底的表面;于该基底及该绝缘插塞的表面上形成一硅材料层;回蚀该硅材料层,以在该绝缘插塞的侧壁上形成一硅材料间隙壁;以及利用热氧化法,将该硅材料间隙壁氧化成氧化硅间隙壁。 | ||
地址 | 台湾省新竹科学工业园区 |