发明名称 半导体装置的制造方法和电子设备的制造方法
摘要 不恶化半导体封装的配置精度,容易调整半导体封装之间的树脂的配置位置。在隔着突出电极13电连接半导体封装PK1和半导体封装PK2之前,半导体芯片3的至少一部分露出,在半导体芯片3上配置树脂15,在半导体芯片3上配置的树脂15维持在A阶段状态或B阶段状态,并且隔着突出电极13电连接半导体封装PK1和半导体封装PK2。
申请公布号 CN1542932A 申请公布日期 2004.11.03
申请号 CN200410038630.4 申请日期 2004.04.27
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 青栁哲理
分类号 H01L21/56;H01L23/28;H01L25/10 主分类号 H01L21/56
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李香兰
主权项 1.一种半导体装置的制造方法,其特征在于包括:向第一半导体封装上的至少一部分区域供给树脂的工序;和在上述树脂维持流动性的状态下,将第二半导体封装电连接在上述第一半导体封装上的工序。
地址 日本东京