发明名称 |
一种p-Zn<SUB>1-x</SUB>Mg<SUB>x</SUB>O晶体薄膜及其制备方法 |
摘要 |
本发明的p-Zn<SUB>1-x</SUB>Mg<SUB>x</SUB>O晶体薄膜,是以B、Al、Ga、In中的一种或几种为施主、以N、P、As气体中的一种或几种为受主共掺杂的p-Zn<SUB>1-x</SUB>Mg<SUB>x</SUB>O晶体薄膜,x的摩尔含量为0<x<40%,掺杂浓度为10<SUP>15</SUP>~10<SUP>19</SUP>cm<SUP>-3</SUP>。薄膜的制备采用脉冲激光沉积法,靶材是由高纯ZnO、MgO和施主掺杂剂粉末混合烧结的陶瓷靶,其中MgO的摩尔含量为0<x<40%,施主掺杂剂的摩尔含量为0<y<3%,生长温度为400~700℃,生长气氛为经等离子体活化的含受主的气体和高纯O<SUB>2</SUB>的混合气体,掺杂浓度可通过调节输入的含受主气体和高纯O<SUB>2</SUB>的不同分压比、靶材中施主掺杂剂的摩尔含量以及后续退火处理的温度来控制。 |
申请公布号 |
CN1542915A |
申请公布日期 |
2004.11.03 |
申请号 |
CN200310108467.X |
申请日期 |
2003.11.04 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
叶志镇;张银珠;黄靖云 |
分类号 |
H01L21/20;H01L21/24;H01L33/00;H01S5/00;C23C16/48;C23C16/40 |
主分类号 |
H01L21/20 |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人 |
韩介梅 |
主权项 |
1.一种p-Zn1-xMgxO晶体薄膜,其特征在于它是以B、Al、Ga、In中的一种或几种为施主、以N、P、As气体中的一种或几种为受主共掺杂的p-Zn1-xMgxO晶体薄膜,x的摩尔含量为0<x<40%,掺杂浓度为1015~1019cm-3。 |
地址 |
310027浙江省杭州市西湖区玉古路20号 |