发明名称 偏振不灵敏半导体光学放大器的制备方法
摘要 一种偏振不灵敏半导体光学放大器的制备方法,包括如下步骤:1)利用等离子体化学气相沉积技术在铟磷衬底上生长介质膜;2)利用普通的光刻腐蚀技术刻出半导体光学放大器所需的掩膜图形;3)采用窄条宽选择生长金属有机化学气相沉积技术,在光刻后的铟磷衬底上依次生长n型铟磷缓冲层、铟镓砷磷有源层以及p型铟磷盖层;4)利用腐蚀液去掉介质膜;5)二次外延p型铟磷盖层和掺锌的铟镓砷接触层;6)光刻腐蚀出器件条形结构;7)三次外延铟磷窗口区;8)光刻腐蚀出器件条形结构;9)利用化学气相沉积生长二氧化硅绝缘层,10)开二氧化硅窗口;11)作电极;12)解理,在器件的两个端面上镀介质光学膜。
申请公布号 CN1174469C 申请公布日期 2004.11.03
申请号 CN01140455.8 申请日期 2001.12.07
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 张瑞英;董杰;王圩
分类号 H01L21/027;G02F1/39 主分类号 H01L21/027
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1、一种偏振不灵敏半导体光学放大器的制备方法,其特征在于, 包括如下步骤: 1)利用等离子体化学气相沉积技术在铟磷衬底上生长介质膜; 2)利用普通的光刻腐蚀技术刻出半导体光学放大器所需的掩膜图 形;介质膜掩膜图形为楔型,其长度可根据实际需要改变,为了克服光 学曝光的物理极限和获得合适的楔型高度,必须同时采用内楔型和外楔 型;中间条宽1微米,在利用普通光刻腐蚀方法得到无介质膜锯齿边的 图形,严格控制涂胶、曝光,显影,以得到清晰的掩膜图形,然后采用 缓冲氧化物腐蚀剂,选择室温,腐蚀出无锯齿边的介质掩膜图形; 3)采用窄条宽选择生长金属有机化学气相沉积技术,在光刻后的 铟磷衬底上依次生长n型铟磷缓冲层、铟镓砷磷有源层以及p型铟磷盖 层; 4)利用腐蚀液去掉介质膜; 5)二次外延p型铟磷盖层和掺锌的铟镓砷接触层; 6)光刻腐蚀出器件条形结构; 7)三次外延铟磷窗口区; 8)光刻腐蚀出器件条形结构; 9)利用化学气相沉积生长二氧化硅绝缘层; 10)开二氧化硅窗口; 11)作电极; 12)解理,在器件的两个端面上镀介质光学膜。
地址 100083北京市海淀区清华东路甲35号
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