发明名称 具嵌入式栅极的金属氧化物半导体场效应晶体管的形成方法
摘要 一种具嵌入式栅极的金属氧化物半导体场效应晶体管的形成方法,在一半导体基板上形成隔离区域及源极/漏极区域;在半导体基板上陆续形成第一介电层和第二介电层,利用非等向性蚀刻技术在半导体基板上形成一沟渠,以热氧化技术形成一层氧化硅层,利用非等向性蚀刻技术在沟渠的侧壁上形成第一间隙壁,在沟渠的底壁上形成一层栅极介电层和栅极插塞,并形成金属氧化物半导体场效应晶体管的源极电极、漏极电极和嵌入式栅极的电极。
申请公布号 CN1173390C 申请公布日期 2004.10.27
申请号 CN00130304.X 申请日期 2000.10.30
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 曾鸿辉
分类号 H01L21/336;H01L21/8232;H01L29/772 主分类号 H01L21/336
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 刘朝华
主权项 1、一种具嵌入式栅极的金属氧化物半导体场效应晶体管的形成方法,其特征在于:它包括如下步骤:a、在一半导体基板上形成隔离区域;b、在所述半导体基板上形成源极/漏极区域;c、在所述半导体基板上陆续形成第一介电层和第二介电层;d、利用非等向性蚀刻技术在所述半导体基板上形成一沟渠;e、利用热氧化技术形成一层氧化硅层;f、利用非等向性蚀刻技术在所述沟渠的侧壁上形成第一间隙壁;g、在所述沟渠的底壁上形成一层栅极介电层;h、形成所述金属氧化物半导体场效应晶体管的源极电极、漏极电极和嵌入式栅极的电极。
地址 台湾省新竹科学工业园区