发明名称 | 一种对寄存器进行巡检校验的方法 | ||
摘要 | 一种对寄存器进行巡检校验的方法,利用芯片随机存储器(RAM)对寄存器的值进行备份,在写寄存器的同时,更新RAM中的备份值,并利用该备份值实现对寄存器的巡检校验,通过设置巡检任务,每间隔一定的时间将RAM中的备份值与对应的寄存器值进行比较;如果比较结果不一致,则上报告警,并进行纠正,将备份值写入相应的寄存器。所述的巡检任务中,还在单板FPGA的某个寄存器中写入数值,并读取该寄存器,如果连续数次读出的值与写入的值不同,则认为发生了电压跌落,硬复位单板。本发明使得在寄存器配置丢失时,能够进行恢复,并可根据需要对单板自动进行硬复位。 | ||
申请公布号 | CN1540511A | 申请公布日期 | 2004.10.27 |
申请号 | CN03127968.6 | 申请日期 | 2003.04.26 |
申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 阎君;廖振钦;孟德顺;植明 |
分类号 | G06F11/00 | 主分类号 | G06F11/00 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 1、一种对寄存器进行巡检校验的方法,其特征在于:利用芯片随机存储器(RAM)对寄存器的值进行备份,在写寄存器的同时,更新RAM中的备份值,并利用该备份值实现对寄存器的巡检校验,包括以下步骤:每间隔一定的时间将RAM中的备份值与对应的寄存器值进行比较;如果比较结果不一致,则上报告警,并进行纠正,将备份值写入相应的寄存器。 | ||
地址 | 518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |